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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>原位樣品桿/臺> 透射電鏡力電原位系統

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透射電鏡力電原位系統

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超新芯(CHIPNOVA)是早期原位芯片技術開發研究者,擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊,10余年來技術不斷迭代升級,在電鏡中實現了液、氣體微環境引入及光、電、力、熱等外場控制與高時空分辨顯微研究。相關系統在材料、能源、環境、化學、生物等領域廣泛應用,促進了人類對微觀世界的探索,推動了相關領域的科技進步。

除了繼續深耕原位電子顯微等科研領域,做世界優秀的科研產品供應商;超新芯(CHIPNOVA)也正將相關技術延伸應用于智慧物聯、大健康等民用領域,產品涵蓋提供智慧牧場方案的智能項圈、監測實時血糖狀況的CGM,為國人提供高品質的技術與服務。

 

原位液相,原位氣相,真空加熱,原位電化學,原位光學,原位力學,原位冷凍

適用電鏡 Thermo?Fisher/FEI,?JEOL,?Hitachi


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我們的優勢

力學性能

1.高精度壓電陶瓷驅動,納米級別精度數字化精確定位。

2.可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。

3.nN級力學測量噪音。

4.具備連續的載荷-位移-時間數據實時自動收集功能。

5.具備恒定載荷、恒定位移、循環加載控制功能,適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。


優異的電學性能

1.芯片表面的保護性涂層保證電學測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級

2.MEMS微加工特殊設計,電場和力學加載同時進行,相互獨立控制。


智能化軟件

1.人機分離,軟件遠程控制納米探針運動。

2.自動測量載荷-位移數據



技術參數

類別項目參數
基本參數
桿身材質
高強度鈦合金
控制方式高精度壓電陶瓷
傾轉角α≥±20°,傾轉分辨率<0.1°(實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號)
適用電鏡Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
適用極靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP 適用極靴
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持








應用案例


圖片4.png圖片5.png



鎢納米柱原位力學壓縮過程


鎢納米柱受力發生彈性形變過程中,彈性形變和塑性形變過程強度和塑性是結構材料應用的關鍵特征,位錯在調控材料強度和塑性的過程中扮演了重要角色,一般來說,位錯滑移越難,材料的強度就越大,而第二相常用來阻礙位錯運動以提高材料強度。例如,陶瓷相可以用于金屬強化,因為基體與第二相之間彈性模量的巨大差異和嚴重的界面失配能夠起到金屬材料強化的作用,遺憾的是硬的第二相一般是在犧牲延展性的條件下實現了強化作用。此外,界面處嚴重的位錯塞積可能會導致局部的應力集中,導致材料在服役過程中突然失效。從本質上講,既需要第二相阻止位錯的運動,還要一定程度上兼容位錯滑移的可塑性。通過原位力學測試,可以更方便研究材料界面應變場變化以達到優化復合材料的強度和塑性的目的。




















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