SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機制，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)據(jù)，設備重新啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品特點：

1、 提供多方位的測量功能和多元化的價位, 擁有更出色的測量精度:

匹配阻抗分析儀是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、最快達5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

2、 采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置。自動升溫降溫，測試功能強大

3、 四通道同時測量,提高效率,增加對比測試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設計夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;

溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能；

軟件：采用C#語言編寫，可視化程度高，自動測試，同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù)，并圖形化。

1、 專用高頻測試線纜，更適合高頻測量：測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專用測試線，設計兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。

2、 可以實現(xiàn)多種材料不同功能的測試，高溫介電，電阻測試等

探測采用高精度鉑金電極，抗干擾的能力強，測量精度高

高溫爐加熱均勻，可實現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測試

介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數(shù)可實時測試

專用的分析和測試軟件，可以自行定義，保存數(shù)據(jù)

主要技術參數(shù)：

1、溫度范圍： -190℃-1000℃

2、測溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口： RS-485

8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極：  帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動控制，可更換夾具的電動升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測量：多功能圖形和參數(shù)測量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

測試儀器：

高溫介電測試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀，其他品牌型號也可定制開發(fā)

Agilent E4990A

· 五種頻率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級

· ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測量精度

· 25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測量范圍（10% 測量精度范圍）

· 測量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復合 Z、復合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

· 內(nèi)置直流偏置范圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

· 10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

· 數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測試

Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測試頻率范圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平范圍可用于在實際工作條件下評估器件。測試信號電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。校準和誤差補償功能避免了進行夾具內(nèi)器件測量時的測量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設計、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強大工具。電路設計和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度為0.1%

測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

　　電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案

30 ms超高速測試速度

　　等效Rdc 可高度精準四線式測試，量測到0.01mΩ

　　0.05%基本精確度

　　可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias

　　可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

　　20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級 ，最高升級到120MHz

　　直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

　　可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)

　　具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺

Tonghui TH29系列

測試頻率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz

基本精度:0.05%

測試速度:最快5.6ms/次

測試原理:自動平衡電橋

高穩(wěn)定性和一致性:高達15個測試量程配置