產地類別 | 國產 | 價格區間 | 10萬-20萬 |
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應用領域 | 電子,航天,制藥,汽車,電氣 |
高低溫冷熱沖擊試驗箱半導體芯片封裝
高低溫沖擊試驗箱根據試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗室,產品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機帶動提籃運動來實現高低溫的切換,產品放在提籃里,是隨提籃一起移動的。
高低溫冷熱沖擊試驗箱半導體芯片封裝
高低溫沖擊試驗箱執行與滿足標準:
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;
4. 軍標GJB150.3-86;
5. 軍標GJB150.4-86;
6. 軍標GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;
9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱--一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱--二箱式;
12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;
10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規則;
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環)測試程序的電連接器和插座的環境影響評估。