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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>元素分析儀>ROHS指令分析儀>EDX8000B MAX X熒光光譜Rohs檢測儀

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EDX8000B MAX X熒光光譜Rohs檢測儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 蘇州英飛思科學儀器有限公司
  • 品牌 英飛思
  • 型號 EDX8000B MAX
  • 產地 唯新路69號一能科技園2幢407
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/10/29 18:05:05
  • 訪問次數 1213

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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


公司簡介:蘇州英飛思科學儀器有限公司,坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。公司專注于X射線熒光光譜儀的研發(fā),生產和應用?;诙嗄甑募夹g積累和沉淀,英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態(tài)研發(fā)和制造技術,包括50瓦,100瓦高壓發(fā)生裝置,50瓦光管的封裝工藝,數字多道分析器(DPP),控制電路板的設計和研發(fā),基本參數法(FP)軟件著作權等。

我們不僅能提供整套光譜儀定制服務,而且能夠提供專業(yè)而系統(tǒng)的元素成分分析解決方案,以滿足客戶日益嚴苛而高標準的測試需求。

公司英文全稱:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd

英文縮寫:ESI

公司口號: Simply the best

公司產品:XRF熒光光譜元素分析儀(臺式,便攜式,手持式,全系列光譜儀)

XRF特點:無損測試,快速檢測,準確分析

應用行業(yè)

貴金屬,珠寶首飾,稀有金屬

合金元素分析,牌號識別PMI,稀土,有色金屬

礦產,地礦

土壤重金屬

石油,化工(石油中低硫測試,油品中金屬元素分析,船舶用油)

有害元素檢測(RoHS 2.0,玩具,皮革,無鹵分析)

鍍層測厚

催化劑

古董,考古

食品安全,化妝品,藥品重金屬分析

建材,水泥,陶瓷,玻璃

液體及各種粉末等元素測試






光譜儀,熒光光譜儀,XRF,Rohs檢測儀,合金分析儀,測金儀,測硫儀,古董分析儀,礦石分析儀,土壤分析儀,測厚儀,手持式光譜儀,鍍層測厚儀

應用領域 環(huán)保,化工,建材,電子,綜合

X熒光光譜Rohs檢測儀

EDX8000是專門針對ROHS/無鹵檢測、鍍層厚度檢測設計得一款產品。

打破傳統(tǒng)儀器直線的設計,采用流線體的整體化設計,儀器時尚大方。

采用美國最新型的Si-pin探測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數據分析準確且維護成本低。

采用自主研發(fā)的SES信號處理系統(tǒng),有效提高測量的靈敏度,讓測量更精確。

一鍵式自動測試,使用更簡單,更方便,更人性化。

八種光路校正準直系統(tǒng),根據不同樣品自動切換。

多重防輻射泄露設計,符號安全輻射防護級別

RoHS2.0 2019  7  22 日起實施。該指令實施后,在 EU 上市的所有電氣和電子設備(醫(yī)療設備以及監(jiān)視控制設備除外)及其下游供應商生產的零部件、原材料和包裝件等均涉及到 DEHPDBP、BBP、DIBP 含量的檢測。

2019  12 月中國電子工業(yè)標準化技術協(xié)會制定的團體標準《T/CESA 1063-2019 電子電氣產品中四種鄰苯二甲酸酯的測定 高效液相色譜法》,規(guī)定了電子電氣產品中四種鄰苯二甲酸酯含量的高效液相色譜測定方法,英飛思儀器結合 IEC62321《電子產品中限用物質的測定》第 8 部分、T/CESA 1063-2019《電子電氣產品中四種鄰苯二甲酸酯的測定 高效液相色譜法》、GB/T 28599-2020《化妝品中鄰苯二甲酸酯類物質的測定》和文獻資料,提出了 DEHPDBP、BBP、DIBP 四種鄰苯二甲酸酯同時測定的液相分析解決方案


X射線熒光光譜儀EDX-8000參數

2.1. 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U);鍍層測試范圍為金屬元素,所鍍元素如金、銀、銅、錫、鎳、鉻、鋅等

2.2. 元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%;鍍層測試總厚度不超過50um,最小可到0.01um

2.3. 測量時間:30-200秒;鍍層層數同時分析最多可達5層

2.4. RoHS指令規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其檢測限度最高達2PPM;   

2.5. 能量分辨率為139±5電子伏特;

2.6. 溫度適應范圍為15℃至30℃;

2.7 電源:交流220V±5V;(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。)

3.儀器硬件部分主要配置                                                                            

3.1Si-pin電制冷半導體探測器:(最新型探測器)                        

3.2 美國Si-pin電制冷半導體探測器;分辨率:139±5電子伏特

3.3 探測窗口:鈹窗 窗口面積:25mm2

3.4放大電路模塊:對樣品特征X射線進行探測;把探測采集的信息,進一步放大

3.5檢測范圍:S-U

3.6X射線激發(fā)裝置:                             

3.7X射線靶材:W,Rh,Mo,Ag,Cr可選

3.8X射線管窗口:Be窗

3.9電氣參數:50W,4-50KV 0-1mA

3.10燈絲電流最大輸出:1mA;

3.11冷卻方式:硅脂冷卻

3.12屬于半損耗型部件,使用壽命大于20000小時

3.13高壓發(fā)射裝置:

3.14電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA,最小5kv可控調節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

3.15譜處理系統(tǒng):多道分析器,處理器類型:全數字化DP5,譜道數數2048(4096),計數率:1000-30000cps包含信號增強處理

3.16光路過濾模塊,降低X射線光路發(fā)送過程中的干擾,保證探測器接收信號準確。將準直器與濾光處整合;準直器自動切換模塊,多達5種選擇,最小0.5mm,濾光片自動切換模塊,多達4種濾光片的自由選擇和切換。

3.17準直器和濾光片的自由組合模塊,多達幾十種的準直器和濾光片的自由組合。

3.18樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭

3.19樣品室尺寸

 樣品腔試驗系統(tǒng)尺寸:460mm*310mm*125mm

 樣品臺承載重量<20kg

 樣品臺控制方式:固定樣品臺

3.20元素檢出限:Cd/Cr/Hg/Br<2ppm, Pb<2ppm, Cl<50ppm

 

 






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