為了滿足客戶日益更為嚴苛的測試需求，特別是對微量痕量元素測試靈敏度和穩定性的更高標準，英飛思ESI全新開發了升級版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測光譜儀。相較于基礎版本的Si-pin硅針檢測器，EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數據通量，更好的光譜分辨率，使得檢測性能提高了2-3倍。

EDX8000B的優勢：

•更快---由于單位時間內可以獲得更高樣品信號通量，使得測量時間大幅減少。100秒即可達到普通版本儀器200秒的測量效果

•更準---多道分析器DPP可實現超過100,000 cps的線性計數速率而同時保證光譜分辨率，通常優于130 eV（普通Si-pin探測器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。同時，強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體元素間吸收增強效應，并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾，把測試準確度提高到了新的水平

•更穩---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測器(普通Si-pin檢測器6mm²),該款檢測器可在相同樣品激發條件下獲得2-3倍于普通檢測器的光譜強度（計數率CPS），從而得到更好的測試穩定性和長期重復性。與傳統的Sipin版本臺式儀器相比，EDX8000B光譜儀可以全功率運行，因此實現了更為穩定和可靠的測試表現

>>圖2-1，2-2可以清晰的看到，同樣測試條件下，8000B獲得了更好的Cl氯測試光譜（圖中紫色部分為Cl元素光譜線，右圖Cl峰形更高，信噪比更好，分辨率更優，最終表現為更優異的測試結果）

如何選擇（EDX8000或者EDX8000B）

如果您對測試速度有更高的要求，

如果您對微量元素（小于100ppm）的測試靈敏度和穩定性有更高要求，

EDX8000B無疑都是好的選擇。

如果您主要關注性價比，EDX8000仍然是非常正確的選擇。

及時而專業的售后服務  

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