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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>其它半導體行業儀器設備>其它半導體設備> HANWA HED-C5000R CDM測試設備

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HANWA HED-C5000R CDM測試設備

具體成交價以合同協議為準

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南京芯測軟件技術有限公司,專業打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內用戶需求,開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發。涉及的設備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,TLP測試設備,CDM測試設備

價格區間 80萬-100萬 應用領域 電子,航天,汽車,電氣
半導體ESD國標標準 JEDESESDAJEITA

HANWA HED-C5000R CDM測試設備

ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM測試設備

 

HED-C5000R


CDM機2


 


Hanwa CDM測試機

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ,AEC,EIAJ),

l 可快速轉換不同標準的測試

l   臺式尺寸,緊湊,準確可靠的CDM測試儀。

l   配備的CCD攝像機

l   提供FI-CDM和D-CDM模式。

l   可以測量每個引腳的電容。

尺寸:W575 x D400 x H300 Weight 35Kg  Compact Desktop Size

 

CDM 測試機

此設備是用來測試接觸不同電位物質時的破壞性設備

產品名/型號 設備說明 設備介紹視頻

HED-C5000R
HED-C5000R

此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備

(滿足JEITA / ESDA / JEDEC規格)可通過交換放電電路組件支持日本國內及國際的測試規格

可測量器件的各個端子的容量,測試數據可保存為文本文件形式




click

 

符合所有主要國際標準:

 

 

標準

標準版號

模式

校準工具


1

ESDA/JEDEC

Joint Standard

AEC101/102

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


2


JEDEC


JESD22-C101F


FI-CDM


Small/Large coin(disk)


3


ESDA


ANSI/ESD S5.3.1-2009


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


4


AEC


AEC - Q100-011 Rev-C1


FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1)  D-CDM: 4pF/30pF module (*2)


5


JEITA


JEITA ED-4701/302 (Method 305C)


D-CDM

Small/Large coin(disk)

+

FR-4 board

 

image.png

 

 

 

 



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