在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前，可以識別出低質(zhì)量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質(zhì)量的工具，使其能夠生產(chǎn)出較薄的硅片，降低了機(jī)械產(chǎn)量損失。

Hinds Instruments 的Exicor® 應(yīng)力雙折射檢測系統(tǒng)PV-Si是Exicor雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺的擴(kuò)展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器，實現(xiàn)了光伏和半導(dǎo)體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測量，除硅外，還可測量藍(lán)寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達(dá)8英寸的500毫米粗錠。臺面設(shè)計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為原材料改進(jìn)、研發(fā)和日常評估的選擇，也是對原始硅錠和其他高技術(shù)材料進(jìn)行評估的選擇。