| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業,電子,印刷包裝 |
x光鍍層測厚儀技術參數
元素分析范圍：S-U
含量分析范圍：PPM-99％
電壓：220V正負5V
測試平臺：三維維樣品移動平臺
探測器：SDD探測器
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
x光鍍層測厚儀工作原理
當輻射撞擊在比例器后，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。
使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。
應用領域
汽車配件
五金工具
線路板
半導體框架
汽車空調設備
端子連接器
衛浴、首飾等。
采購中心
化工儀器網