XTD鍍層測(cè)厚儀 上照式X射線熒光光譜膜厚儀
- 公司名稱 深圳市美程精密電子有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì)
- 更新時(shí)間 2022/3/21 16:22:37
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- 測(cè)量面積:最小0.04mm2
- 鍍層分析:23層鍍層24種元素
- 儀器特點(diǎn):可變焦對(duì)焦
- 儀器優(yōu)勢(shì):同元素不同層分析
XTD系列測(cè)厚儀,專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案:
XTD系列測(cè)厚儀,專用于檢測(cè)各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
儀器優(yōu)點(diǎn):
1. 分析精度高
2. 分析范圍廣
3. 微區(qū)定位準(zhǔn)
4. 操作簡(jiǎn)單快捷
5. 結(jié)果可靠精準(zhǔn)
6. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
XYZ高精密移動(dòng)裝置:快速精準(zhǔn)定位,手/自動(dòng)(可選),自動(dòng)版可實(shí)現(xiàn)編程定位多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)試。
軟、硬件雙向操作:人性化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)軟件,硬件雙向快捷操作。
變焦+對(duì)焦:配備高敏感鏡頭,實(shí)現(xiàn)無(wú)感對(duì)焦,可測(cè)各種異形件、超大工件。
性能優(yōu)勢(shì):
1.*的EFP算法:多層多元素、各種元素及有機(jī)物,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。
2.上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)可對(duì)超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量。
3.自動(dòng)對(duì)焦:高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦。
4.變焦裝置算法:可對(duì)90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測(cè)。
5.小面積測(cè)量:最小測(cè)量面積0.04mm2
6.大行程移動(dòng)平臺(tái):手動(dòng)XY滑臺(tái)100*150mm,自動(dòng)XY平臺(tái)200*200mm.
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):
測(cè)厚儀*的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺(jué)與測(cè)試定位一體,且X光擴(kuò)散度小;與EFP軟件配合達(dá)到對(duì)焦、變焦雙焦功能,實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測(cè)試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來(lái)的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測(cè)試更厚的表層。
核心EFP算法:
專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子,可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
儀器型號(hào)對(duì)比: