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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描透射電子顯微鏡>CIX100顯微鏡 奧林巴斯技術清潔度掃描檢測顯微鏡

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CIX100顯微鏡 奧林巴斯技術清潔度掃描檢測顯微鏡

參考價 350000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


東莞市天測光學設備有限公司(TianCe Optical Equipment Co.,LTD.)是一家專從事測量儀器銷售和服務的公司。公司坐落在中國制造業名城廣東省東莞市.公司本著“誠信、專業、務實、創的新”的經營理念,堅持“以質量求生存、以信譽求發展”為企業宗旨,為客戶提供高的質的好價的產品和服務,獲得珠三角客戶廣泛好的評。公司專從事美國QVI產品、法國Keron 關節臂三坐標測量儀、等測量儀器的銷售、安裝、維修、校正、保養、升級等服務。公司擁有完的善的樣品測試中心和方案評估實驗室,可為客戶提供完善的測量解決方案,公司附設200平米的機器展示中心,可為企業,學校及研究機構提供三維尺寸測量,三維激光掃描,測量儀應用培訓等服務。




OGP影像測量儀, VIEW影像測量儀,三次元測量儀,三坐標測量儀,顯微鏡,光學儀器,激光掃描儀

應用領域 電子,交通 實時分析 自動實時處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒

奧林巴斯CIX100技術清潔度檢測系統:讓您技術清潔度檢測簡便

組件與零部件清潔對于生產工藝十分重某要。對于開某發、制造、批量生產以及成品質量控制所有流程,滿足對常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類高標準要求是非常重某要的。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響,國際和國家指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前,使用殘留顆粒物的質量來描述殘留物特征。當前使用的標準對諸如顆粒物數量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細的信息要求。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統專為滿足現代工業及國家和國際標準的清潔度要求而特別設計。


組件及零部件的技術清潔度非常重要,特別是在汽車和航空航天行業。

清潔度檢測的標準步驟:準備和檢測
(01:提取, 02:過濾, 03:稱重, 04:檢驗, 05:復審, 06:結果)




簡單,可靠

硬件與軟件無縫集成的耐用型高效率系統能夠產出可靠、精確的數據。

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實現真正整體解決方案功能性的簡單配置

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通過穩定不變的系統配置實現精確的可重復性和很好安全性

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好的的光學性能和可再現成像條件

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通過可再定位和集成校準裝置確保成熟可靠的耐久性

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確保高性能的全系統集成

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實現效率的直觀引導

使用方便的專用工作流可大大減少用戶操作并確保數據可靠性-無關操作員的經驗水平。

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分布操作指導可提高生產率,縮短檢測和處理時間

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用戶權限管理可對功能作出限制,通過限制功能避免操作員處理失誤

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觸摸屏支持操作員高效操作處理

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一鍵報告功能可直接進行數據存檔

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通過檢測結果自動存儲和進行數據分享管理

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快速實時分析

創新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統調節檢偏鏡式檢測系統的兩倍。實時顯示顆粒物的計數和篩選過程,并且配有便于修改檢測數據的強大易用型工具。

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縮略圖像有助于評估過濾器覆蓋情況、顆粒物類型情況或者最劣顆粒物

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自動實時處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒

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通過一個的一體式掃描技術一次掃描完成反光和非放光物體的探測提高生產率

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分析和檢測結果實時顯示,實現最短反應時間

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支持兼容國際標準的檢測結果

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高效率的數據評估

功能強大且使用方便的工具支持檢測數據修改。支持所有國際標準確保高靈活性。以節省時間的方式清晰展示所有相關檢測結果。

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圖像和數據布局清晰鮮明,提高數據審核效率

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各種顆粒物視圖的可視化,便于快速識別

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顆粒物位置與縮略圖與其尺寸圖像鏈接的可靠保證

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便于對檢測數據進行重新分類、審核修改以及重新計算

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通過整體清潔度代碼、顆粒物和分類表的實時顯示縮短反應時間

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通過在一個視圖內顯示全部檢測數據集實現全面控制

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報告創建

一鍵報告功能可滿足國際標準規定的要求及原則。

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基于兼容模板實現全面直觀的專業文檔

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通過客戶可修改的模板實現的智能可變性

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支持各種輸出格式,實現高靈活性

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通過直接文件分享選項功能進行信息交流提高效率且節省時間

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便于檢測結果長期評判的豐富數據存儲方案

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可靠的全套系統解決方案:
實現高度可再現性的自動化和精確度

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奧林巴斯CIX100系統是專為滿足自動化清潔度檢測需求的整體解決方案。所有部件均已針對高生產率系統數據的精確性、可再現性、可重復性以及無縫集成進行優化。該系統專為獲得好的光學性能、可再現觀察條件以及可重復性而設計。同時,該清潔度檢測系統還可通過自動化關鍵任務功能大大減少人為錯誤。

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1.可再現成像條件(相機蓋)
通過受保護的相機對齊避免意外錯位,實現好的可再現性。
2.創新偏光方法(探測單元)
一次掃描即可探測反光(金屬)和非反光顆粒物。
3.經久耐用(載物臺/載物臺插件)
精確可再現的定位以及改良的對焦驅動功能確保實現可再現的定位。載物臺插件可確保牢固的薄膜定位,并且配有用于集成校準工具的額外插件。
4.優良的光學性能(顯微鏡)
通過奧林巴斯UIS2物鏡和高分辨率相機等優質光學組件獲得分析用美的圖像質量。
5.使用方便(軟件)
簡單易用的軟件采用直觀分步操作的工作流,引導用戶完成完整的檢測流程,并可大限度降低操作員失誤。
6.高性能(工作站)
功能強大的工作站配有方便高效工作的觸摸屏顯示器。

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可再現性和可重復性

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該圖表通過利用過程性能指數(Ppk)驗證測量穩定性和可重復性展示了奧林巴斯CIX100的精密性。在5X10X倍率下測量同一樣品數次(10次)并提取按常規尺寸分類的顆粒物計數。該圖表展示了E等級(50-100µm)CpkPpk評估。

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奧林巴斯CIX100系統使用方便,即使不熟練的檢測人員也能夠獲得精確可靠的數據。預配置的硬件和專用系統解決方案可幫助確保您的設置能夠正確獲得精確、可重復的檢測結果。

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好的光學品質

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奧林巴斯高品質UIS2物鏡可確保獲得優質測量和分析精度的好的光學性能。針對清潔度檢測優化的專用光源可保持均一一致的色溫。

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經過優化的可再現性

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集成式校準片有助于保持常規的系統校驗狀況。

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通過消除照明光程上的運動部件、大限度實現功能自動化以及創建避免操作員失誤的直觀工作流,可再現性達到滿意。集成式校準載玻片有助于保持常規的系統校驗狀況。

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安全設置

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光路調整、電動物鏡轉換器以及相機均配有避免發生意外修改的防護蓋。

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實現高效率的直觀引導

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布局清晰的用戶界面不但可以讓清潔度檢測實現可重復性及可再現性,還可方便專業人士和非專業人士使用。

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奧林巴斯CIX100系統通過完整檢測流程實現性能和生產率的提升,該產品專為便于各種經驗水平的檢測員進行清潔度檢測而設計。軟件可提供完整清潔度檢測流程的分步指導。直觀的工作流可提高生產效率和對檢測結果的信心,同時縮短檢測周期,減少每次檢測的成本以及操作失誤。最終獲得能夠大限度確保滿足高質量標準的檢測系統。

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便于任何人使用

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直觀的分步界面可引導任何經驗水平的操作員完成整個調查過程,并大限度縮短日常檢測的時間。

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奧林巴斯CIX100重新定義了用戶操作,讓清潔度檢測對包括非專業的操作員均非常簡單。所有用戶都可以生成可靠的檢測數據。系統通過用戶引導減少復雜調整操作。僅包含三個步驟的直觀工作流:檢測樣品、復審結果以及生成報告。系統通過在各個流程步驟提供相關國際標準的指導以及充分利用自動化功能減少了復雜的調整操作。

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可靠的數據

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系統定期提示進行自動系統檢測,以便獲得精確的檢測結果;并提供支持操作員日常操作的預配置和自定義系統配置。

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預配置及預校準系統與直觀用戶界面的結合有助于讓各種經驗水平的檢測者均可輕松進行清潔度檢測。

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存儲和共享

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所有數據均為自動保存。數據管理部分可以讓用戶快速查看所有存檔樣品及其相關數據及報告,方便信息的修改或分發。

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管理工具

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奧林巴斯CIX100系統可讓管理者實現對系統各組件用戶訪問的控制。根據操作員的經驗水平,系統管理者可定義不同的職責并為操作員選擇相應的功能。經驗豐富的用戶可訪問整個系統設置,而經驗不足的用戶則限制在基本工作流操作上。該功能有助于確保經驗不足的用戶生成可靠的檢測結果。

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用戶權限功能可允許管理員利用標記功能定義操作員職責。

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支持觸摸屏

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通過觸摸技術實現高度操作性

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奧林巴斯CIX100軟件的大尺寸按鈕與系統采用的現代化高效觸摸屏技術好的配合。

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檢測配置

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奧林巴斯CIX100系統在出廠時已經過配置和校準,可以很方便地根據您的應用和要求進行修改和自定義。

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快速實時分析和審核

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所有相關數據均在一個界面顯示

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在檢測過程中所有相關數據均實時顯示在一個屏幕上,讓操作員在發現檢測不合格的情況下能夠終止或干預檢測流程。

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奧林巴斯CIX100系統利用創新偏光方法可在一次掃描中實現對尺寸介于2.5 μm42 mm之間反光及非反光顆粒物的高性能圖像采集和精確的實時分析。這種一個的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度達到其他檢測系統的兩倍。經過計數和篩選的顆粒物以實時方式顯示,該功能有助于對是否重新檢測進行即時決策,并可在發現檢測不合格的情況下獲得更快的應對時間。

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快速:一次掃描完成數據采集

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基于波長分離和色彩檢測的創新型偏光方法可在一次掃描中同時探測反光(金屬光澤)和非反光顆粒物。通過與顯微鏡鏡架的集成,這種高生產率設計讓掃描完成的速度達到其他檢測系統的兩倍,并且消除了操作員與偏光鏡等系統組件的互動操作,此類操作可能會對系統設置造成負面影響,導致產生可能的錯誤檢測結果。一體式掃描技術增加了被檢測顆粒物的數量,降低了每次檢測的成本,并縮短了出現檢測不合格時的應對時間。

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1:“傳統方法,2:’方法
(1-1:非反光, 1-2:反光, 2:組合型)
一種一次掃描即可探測反光(金屬光澤)和非反光顆粒物的創新偏光方法。

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直接識別

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縮略圖像有助于評估過濾器覆蓋情況、顆粒物聚集情況或者最差的顆粒物,這樣用戶能夠在最終檢測開始之前做出快速反應。

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