XFlash 6-30 布魯克 QUANTAX 能譜儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 昆山瑞塞奇精密儀器有限公司
- 品牌
- 型號 XFlash 6-30
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2022/3/25 15:40:35
- 訪問次數 3009
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窗口類型 | SW | 分辨率 | 121、123、126、129eV |
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峰背比 | NA | 價格區間 | 面議 |
探測器類 | 硅漂移探測器(SDD) | 探測器面積 | 10/30/60/100 mm2mm |
儀器種類 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,生物產業,能源,綜合 |
最大計數率 | 600kcpscps | 元素檢測范圍 | Be - Am |
布魯克 QUANTAX 能譜儀結合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固體角度®活動區域芯片。這使得探測器對希望在EDS應用的整個譜圖中使用探測器的分析中非常有吸引力,從輕元素分析到快速面掃描Mapping,以及EDS和EBSD測量的結合。XFlash6-30一定會提供快速的結果。
一:XFlash6-30具有以下優點:
1.XFlash 6-30 出色的能量分辨率(Mn K® 的 123 eV,C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV)®
2.其他可用分辨率為 Mn K® 的 126 eV和129 eV
3.*的脈沖處理能力
4.出色的輕元素和低能量X-ray分析性能(Be - Am 元素范圍)
5.空氣冷卻,不會因為其他冷卻系統而產生震動
6.電源打開后立即可用
7.運營成本低
8.免維護操作
9.小尺寸,包括 slim-line technology finger
10.重量低
二:布魯克 QUANTAX 能譜儀推薦應用領域包括:
1.XFlash 6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系統(焊接波紋管可作為選項使用)
2.將 EDS 和快速 EBSD 分析與eFlash FS 相結合
3.快速元素面掃描