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日立分析儀器(上海)有限公司

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日立紫外可見光近紅外分光光度計(jì)UH4150

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蘇州思普萊信息科技有限公司主營實(shí)驗(yàn)測(cè)試設(shè)備,現(xiàn)有*產(chǎn)品達(dá)到240余項(xiàng),多種產(chǎn)品通過歐盟CE、EN、美國NSF、FDA等認(rèn)證,擁有注冊(cè)證180多項(xiàng)。已在全國19個(gè)省市建立了分公司,在美國硅谷、迪拜、印度、阿爾及利亞、新加坡等地建立了海外孵化基地。

分光光度計(jì),原子力顯微鏡,熱分析儀,電子顯微鏡

波長范圍 190~3300nm 波長準(zhǔn)確度 ±0.1nm
光譜帶寬 1nm 價(jià)格區(qū)間 面議
接收器類 CMOS 儀器結(jié)構(gòu) 雙光束
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,電子 雜散光(S.L.) <0.01%T
自動(dòng)程度 自動(dòng)波長

切換檢測(cè)器波長時(shí)會(huì)產(chǎn)生小的信號(hào)差異,即使這樣日立紫外可見光近紅外分光光度計(jì)UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)定


檢測(cè)器切換時(shí)附近波長測(cè)定數(shù)據(jù)例
(金納米棒的吸收光譜)

安裝在積分球上的多個(gè)檢測(cè)器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)等,將檢測(cè)器切換時(shí)(信號(hào)水平的差異)吸光度值的變化降到最小。

日立紫外可見光近紅外分光光度計(jì)UH4150高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對(duì)于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測(cè)定。

分光光度計(jì)平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測(cè)定


鏡面反射率測(cè)定示例

入射角對(duì)固體樣品鏡面反射率的測(cè)定非常重要。對(duì)于會(huì)聚光束,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會(huì)不同,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計(jì)值將與實(shí)際測(cè)定值不同。 但對(duì)于平行光束,相對(duì)于樣品入射角始終相同,實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測(cè)定。此外,平行光束可用于擴(kuò)散率(霧度)的評(píng)價(jià)和透鏡透過率的測(cè)定。

分光光度計(jì)可提供適合不同測(cè)定目的的多種檢測(cè)器


檢測(cè)器產(chǎn)品線

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3

采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)

改進(jìn)樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。

兼容多種分光光度計(jì)U-4100附件

通用附件適用于兩種型號(hào)。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,適合更多的測(cè)定類型。

比分光光度計(jì)U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時(shí),UH4150提供更高通量的測(cè)定。之前型號(hào)的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測(cè)定時(shí),掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測(cè)定,顯著縮短測(cè)定時(shí)間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測(cè)定到2,600 nm。對(duì)需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測(cè)定的樣品,如太陽能反射材料,尤其有效。


掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜


掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜

微小樣品透過率測(cè)定

微小樣品透過率測(cè)定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測(cè)定。


攝像鏡頭測(cè)定示例

微小樣品透過率測(cè)定(P/N 1J0-0204)

規(guī)格
掩膜類型適合樣品尺寸
φ3mm掩膜
(標(biāo)配)
φ5-φ20,厚度等于或
小于3 mm
φ1mm掩膜
(選配)
φ3-φ20,厚度等于或
小于3 mm
  • *

  • 更換光源掩膜必須要使用隨附φ4 mm光源掩膜。

漫反射率測(cè)定

可將樣品放在積分球后面(樣品側(cè)的入射角為0°)測(cè)定粉末等樣品的漫反射率。


二氧化鈦漫反射率測(cè)定示例

60 mm標(biāo)準(zhǔn)積分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120)

規(guī)格
入射角
波長范圍240 - 2,600 nm
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