日立紫外可見光近紅外分光光度計(jì)UH4150
- 公司名稱 蘇州思普萊信息科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2021/11/10 15:59:37
- 訪問次數(shù) 324
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波長范圍 | 190~3300nm | 波長準(zhǔn)確度 | ±0.1nm |
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光譜帶寬 | 1nm | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
接收器類 | CMOS | 儀器結(jié)構(gòu) | 雙光束 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,電子 | 雜散光(S.L.) | <0.01%T |
自動(dòng)程度 | 自動(dòng)波長 |
切換檢測(cè)器波長時(shí)會(huì)產(chǎn)生小的信號(hào)差異,即使這樣日立紫外可見光近紅外分光光度計(jì)UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)定
檢測(cè)器切換時(shí)附近波長測(cè)定數(shù)據(jù)例
(金納米棒的吸收光譜)
安裝在積分球上的多個(gè)檢測(cè)器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)等,將檢測(cè)器切換時(shí)(信號(hào)水平的差異)吸光度值的變化降到最小。
日立紫外可見光近紅外分光光度計(jì)UH4150高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振
UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對(duì)于低透過率和反射率的樣品,UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測(cè)定。
分光光度計(jì)平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測(cè)定
鏡面反射率測(cè)定示例
入射角對(duì)固體樣品鏡面反射率的測(cè)定非常重要。對(duì)于會(huì)聚光束,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會(huì)不同,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計(jì)值將與實(shí)際測(cè)定值不同。 但對(duì)于平行光束,相對(duì)于樣品入射角始終相同,實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測(cè)定。此外,平行光束可用于擴(kuò)散率(霧度)的評(píng)價(jià)和透鏡透過率的測(cè)定。
分光光度計(jì)可提供適合不同測(cè)定目的的多種檢測(cè)器
檢測(cè)器產(chǎn)品線
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3
采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)
改進(jìn)樣品室門,提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。
兼容多種分光光度計(jì)U-4100附件
通用附件適用于兩種型號(hào)。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,適合更多的測(cè)定類型。
比分光光度計(jì)U-4100型更高的樣品通量
在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時(shí),UH4150提供更高通量的測(cè)定。之前型號(hào)的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測(cè)定時(shí),掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測(cè)定,顯著縮短測(cè)定時(shí)間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測(cè)定到2,600 nm。對(duì)需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測(cè)定的樣品,如太陽能反射材料,尤其有效。
掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜
掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜
微小樣品透過率測(cè)定
微小樣品透過率測(cè)定附件可用于像微型玻璃和攝像鏡頭等樣品的透過率測(cè)定。
攝像鏡頭測(cè)定示例
微小樣品透過率測(cè)定(P/N 1J0-0204)
掩膜類型 | 適合樣品尺寸 |
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φ3mm掩膜 (標(biāo)配) | φ5-φ20,厚度等于或 小于3 mm |
φ1mm掩膜 (選配) | φ3-φ20,厚度等于或 小于3 mm |
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更換光源掩膜必須要使用隨附φ4 mm光源掩膜。
漫反射率測(cè)定
可將樣品放在積分球后面(樣品側(cè)的入射角為0°)測(cè)定粉末等樣品的漫反射率。
二氧化鈦漫反射率測(cè)定示例
60 mm標(biāo)準(zhǔn)積分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120)
入射角 | 0° |
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波長范圍 | 240 - 2,600 nm |