ROLAND 傳感器SCI20S-GG
- 公司名稱 上海壹僑國際貿(mào)易有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/10/31 12:36:47
- 訪問次數(shù) 384
聯(lián)系方式:張奇凡13370032884 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),地礦 |
---|
ROLAND 傳感器SCI20S-GG
ROLAND 傳感器SCI20S-GG
| EBMPAPST
| R3G500- RL96- 01推薦型號(hào)
| FAIRCHILD
4536A
ETAS
| ES582.1
ETAS
| ES582.1
| GILEON
LEL40940-Z 4
JVL
| MIS340C12EPH285
ERO ELECTRONIC
停產(chǎn),推薦替代: 3508
LECHLER
| 5S5.294.1Y.AN.00.0
M ICROCENTRIC
451070-0001-00+ 464000-0049-00
SETTIMA
| GR45 SMT 16B 210L GD CS HA TMK22U31
|SCHUNK
303940 GSM-P 40-S-180
CLOOS
0875004968
| REGAL
6RN112M02E22U46R R78替代型號(hào)
FIFE
| M463426 DSE-15
VECTOR
VN1640A
SCHUNK
308151 PHL-W 32 -060
FIFE
停產(chǎn),替代: DSE-15
ROHM
1234025
VECTOR
VN1630A
| EUROTHERM
| EPOWER/1 PH- 100A/600V
TIMM ELEKTRONIK
| KA1ZA0110
VECTOR
VN1640A
|SCHUNK
371105 PGN- PLUS 200-1
SPECK
|QY- 1044-0013
LEYBOLD
TTR 101 , DN16 KF, 2SP, OHNE DISPLAY
|IGUS
CF31.160.04-30 30米
SETTIMA
| GR47 2C 050CC- FSAEBAC ODX V
| BUCHER
CINDY 16- B-PTD-S150-L-D25-2-SVT320
SCHMALZ
10.02.02.03731 SXMPI 30 IMP Q PC 2XM12-5
|STULZ
|ACA B3 100LB4/PHE 400V IE3 O 1112007
| ROPEX
停產(chǎn),兼容的后繼產(chǎn)品: RES- 5006
| MONTABERT
| 86240306
PINTSCH BUBENZER
| 8-000592800214E, SFB 40
WITTMANN
| D0DQ08TB .
ROL AND
| P42AGS
| BIHL+ WIEDEMANN
| BWU3363
SKF
CARR40X700X4/0000
DITTEL
| F20038 BA 320D -M8
VECTOR
VN1640A CAN/LIN NETWORK INTERFACE
| RNA
|31004135 ESR- 2000 110- 230V/50 -60HZ
ROLAND
| P42AGS
VECTOR
VN1640A
BIHL-WIEDEMANN
| BWU2238
AMTEC
| K 229.302.640N
| GIGAVAC
| GIG/G2SP
|OTT
| 9560000336不含配件
VECTOR
VN1640A CAN/LIN NETWORK INTERFACE
TWK
BIHL+ WIEDEMANN
ASI-3.0
DEMAG
| ADE60CDD NR.31 805669
HELUKABEL
| 85459 L=3M/根
MAYSER
|SG- EFS 104/4 L 24 V AC/DC
MAYSER
| EKS?014?TPE
SEW
BME 1.5 08/257221
M ERKEL
G11-45 L004-070.049
BURKERT
00145621
RITTAL
3383100
TR
|C EW68M-07
SN: 00015 000
ABB
| M3AA090L0-4
RUGGLES- KLINGEMANN
| 514D098H005
HASLER
OPG (5.8600.34/42)
NORDAC
SK 520E- 551-340-A- KAR (275520551)
HAAKE
HSC B- 50- 1250MM
L AND
M2 300/1100C-V
WATT
|SSA609C 64K4- BR2
AIR TORQUE
S08 AF05+ F07- N-17D + AT251U, MAX P: 8BAR
AIR TORQUE
|S08 AF07+ F10-N-22D +AT301U, MAX P: 8BAR
AIR TORQUE
D A HTF07+ F10- N-22D +AT351U, MAX P: 8BAR .
AIR TORQUE
|S08 AF10+ F12- N-27D + AT451U, MAX P: 8BAR
AIR TORQUE
|S08 AF10+ F12- N-27D + AT501U, MAX P: 8BAR
HYDRAULIK-ZYLINDER
|S050836
FERRAZ
| ROL AND
| P42AGS
| ROLAND
| P42AGS
ROLAND
| P42AGS
ROLAND
| P42AGS
ROLAND
P42AGS .
ROLAND
| PW42AGS
ROLAND
PW42AGS
| ROLAND
| PW42AGS
| ROL AND
| PW42AGS
| ROLAND
| PW42AGS
ROLAND
PW42AGS
ROLAND
A100-S+ TN15S+ SNKAS-GG (檢測器+傳感器+ 2M電纜)
ROLAND
I20-2-0-S-FP
ROLAND
120-2-0-S
ROL AND
I20-2-O-S
| ROLAND
120-2-O-S
| ROLAND
E20- 4P-B-O-FP
| ROL AND
120-4-O-S-FP
ROLAND
l20-2-PN-S
ROLAND
后繼型號(hào): 120-2- PR-S- FP
ROLAND
| E20-4P- PN-S
ROLAND
UDK20-2PW-B-O-S 整單有效
ROLAND
UDK20-2PW-B-O-S
| ROLAND
UDK20-2PW-B-O-S
ROLAND
UDK20-2PW-B-0-S-FP
| ROLAND
ROLAND
|SCI20S-GG 25,25M
ROLAND
CECM18S-G-10
ROL AND
TN08S
ROLAND
A100
ROLAND
A100
ROLAND
A100-S
ROLAND
| IS20 -30GS
ROLAND
IS42-30GS
ROLAND
IE42-30GS
ROL AND
IS42 - 30GS
ROLAND
IE42-30GS
ROLAND
IS42 -30GS
ROLAND
IE42 -30GS
ROLAND
| IS42-30GS
ROLAND
IE42-30GS
ROLAND
IE42-30GS
ROL AND
IS20-30GS
ROLAND
IE20-30GS
ROLAND
IE20-30GS
ROLAND
| IS20-30GS
ROLAND
IE20- 30GS整單有效
ROLAND
IS20-30GS
ROLAND
IE42-30GS
ROL AND
P42AGS
ROLAND
| SHX42
ROLAND
| P42AGS
ROLAND
P42AGS
ROLAND
| P42AGS
ROLAND
| P42AGS
| S0047000
E20-4P-PR-S
ROLAND
| NS12NH- EC8X80NT10-100-S
ROLAND
| E20- 4P-IN-S
ROLAND
SND40-EC-MF-IO 整單有效
NF28- 64 ATQR5 10A 200KA 1R 600V AC
EGGER
| 69060
CLAYMOUNT
| 54510/L3/75- CA45-CA45 5M
LOREME
WELL/TUBELENGTH:550MM
REHOBOT
PHS- 45014
TKSE
| K.00849.504.00.00
|CRD66- 4096R4096C2Z14
LEINE&LINDE
770594-01
VECTOR
VN1 630A
VECTOR
VN1640A CAN LIN NETWORK INTERFACE
SCHUNK
0371404 PGN-PLUS 160-1-AS
REXROTH
1070090867
BK MIKRO
TK- BKM-8A-21.015393
TR
| 110-02807
| AKM
|型號(hào)AKM345- 00275085. 繞組溫度計(jì)AKM3540112-12 TD111 4開
VECTOR
VN1640A
BALDOR
| EM3714T-58 替代
BCZ8050系列防爆防腐插接裝置(IIC),適用范圍Application
BCZ8050系列防爆防腐插接裝置(IIC)
適用范圍Application
1區(qū)、2區(qū)危場所.
IIA、IIB、IIC類爆炸性氣體環(huán)境注:可按要求特制成粉塵防爆。
Can be used Zone 1 and Zone 2 dangerous places.
Can be used in IIA,IIB,IIC group explosive atmosphere.
Notice:It can be made especially as scoot explosion-proof as per requirement.
產(chǎn)品特點(diǎn): 1、外殼采用高強(qiáng)度難燃工程塑料壓制而成,外形美觀且具有抗靜耐沖擊熱穩(wěn)定性好及耐腐蝕等優(yōu)良性能。
2、具有聯(lián)鎖機(jī)構(gòu),只有插座內(nèi)的開關(guān)分?jǐn)嗪蠓侥馨纬霾孱^。
3、插座上設(shè)有掛鎖,在不使用時(shí),可以通過掛鎖鎖定,可使插座罩蓋無法打開,防止誤操作。
4、可特制成粉塵防爆。
5、抗靜電
技術(shù)參數(shù);
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB3836.1-2000、GB3836.2-2000、GB3836.3-2000、IEC60079;
防爆標(biāo)志:Exed II CT6
防護(hù)等級(jí):IP65
防腐等級(jí):WF2
防堵風(fēng)速風(fēng)量測量裝置是基于S形畢托管測量原理,當(dāng)管內(nèi)有氣流流動(dòng)時(shí),迎風(fēng)面受氣流沖擊,在此處氣流的動(dòng)能轉(zhuǎn)換成壓力能,因而迎面管內(nèi)壓力較高,其壓力稱為"全壓",背風(fēng)側(cè)由于不受氣流沖壓,其管內(nèi)的壓力為風(fēng)管內(nèi)的靜壓力,其壓力稱為"靜壓",全壓和靜壓之差稱為差壓,其大小與管內(nèi)風(fēng)速有關(guān),風(fēng)速越大,差壓越大;風(fēng)速小,差壓也小,風(fēng)速與差壓的關(guān)系符合伯努利方程。
折疊編輯本段特點(diǎn)
1、 S型防堵塞結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)確保在管道介質(zhì)濃度大于50%的工況下,測速裝置長期運(yùn)行不會(huì)出現(xiàn)堵塞現(xiàn)象。
2、 壓力損失極小,大大降低風(fēng)機(jī)電耗,節(jié)能效果明顯。
3、 核心部件采用耐磨材質(zhì)特殊制造,確保連續(xù)使用一個(gè)大修周期以上。
4、 準(zhǔn)確穩(wěn)定的信號(hào)輸出,良好的線性及復(fù)現(xiàn)性。
5、 采用多點(diǎn)網(wǎng)格法測量大尺寸管道,等截面多點(diǎn)布置精確測量氣體流速。
6、 直管段要求很低。 在1.5D的直管段的工況下,仍可保證線性與精度。
7、 差壓信號(hào)大,與畢托管、阿牛巴等相比,可產(chǎn)生大于其2倍的差壓。
折疊編輯本段技術(shù)參數(shù)
1. 測量精度:1%、2%
2. 測量裝置制造材料:S316或Icr18Ni9Ti不銹鋼
3. 測量介質(zhì):干燥的氣體或含粉塵氣體
4. 工作溫度:-100 ~400℃
5. 管道通徑:50㎜≤D≤8000
6. 公稱壓力:PN≤16Mpa
7. 參照標(biāo)準(zhǔn):ISO 3966-197、JB/T5325-1991及GB/T2624-2006
8. 連接方式:插入式法蘭連接,插入式螺紋連接、管道式法蘭連接、管道式螺紋連接
結(jié)構(gòu)形式
風(fēng)速風(fēng)量測量裝置根據(jù)不同的使用場合、不同工況條件和安裝方式分為多種結(jié)構(gòu)。
防堵陳列式風(fēng)量測量裝置:
基于畢托管的測量原理;
測量精度高、良好的線性度與重要性;
可以任意角度安裝;
很高的性價(jià)比,非常經(jīng)濟(jì)的運(yùn)行成本;
可以忽略不計(jì)的管道壓力損失,有效降低風(fēng)機(jī)能耗;
管道內(nèi)截面多點(diǎn)陣列分布,測量速度平均。
靠背測速管,笛形測速管:
兩種都是非標(biāo)準(zhǔn)型測速裝置。
笛行管安裝在管道內(nèi)可一次性測量氣流平均流速。雙笛形管是將全壓測管和靜壓測管組裝在一起,在全壓管的迎流面開有一排全壓測孔,在靜壓管背面開有一派靜壓測管。
靠背管原理與畢托管相似,通過測量總壓與靜壓之差得到動(dòng)壓值。它帶有動(dòng)壓放大性質(zhì),使用前需標(biāo)定。
雙文丘里測速管:
用于電廠鍋爐供風(fēng)和煙氣流速測量;
結(jié)果簡單;
壓力損失小,只占其產(chǎn)生差壓體積的1%左右;
對(duì)直管段的要求不嚴(yán)格;
動(dòng)壓放大倍數(shù)最高,是皮托管、均速管裝置的幾倍甚至十幾倍;
每支雙文丘里測速管在出廠前均經(jīng)過標(biāo)定,附有檢測報(bào)告,安裝 后一般無須再進(jìn)行現(xiàn)場標(biāo)定。
針對(duì)管道內(nèi)的風(fēng)、粉、塵等雜質(zhì)的設(shè)計(jì)而成
防堵風(fēng)速風(fēng)量測量裝置是基于S形畢托管測量原理,當(dāng)管內(nèi)有氣流流動(dòng)時(shí),迎風(fēng)面受氣流沖擊,在此處氣流的動(dòng)能轉(zhuǎn)換成壓力能,因而迎面管內(nèi)壓力較高,其壓力稱為"全壓",背風(fēng)側(cè)由于不受氣流沖壓,其管內(nèi)的壓力為風(fēng)管內(nèi)的靜壓力,其壓力稱為"靜壓",全壓和靜壓之差稱為差壓,其大小與管內(nèi)風(fēng)速有關(guān),風(fēng)速越大,差壓越大;風(fēng)速小,差壓也小,風(fēng)速與差壓的關(guān)系符合伯努利方程。
折疊編輯本段特點(diǎn)
1、 S型防堵塞結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)確保在管道介質(zhì)濃度大于50%的工況下,測速裝置長期運(yùn)行不會(huì)出現(xiàn)堵塞現(xiàn)象。
2、 壓力損失極小,大大降低風(fēng)機(jī)電耗,節(jié)能效果明顯。
3、 核心部件采用耐磨材質(zhì)特殊制造,確保連續(xù)使用一個(gè)大修周期以上。
4、 準(zhǔn)確穩(wěn)定的信號(hào)輸出,良好的線性及復(fù)現(xiàn)性。
5、 采用多點(diǎn)網(wǎng)格法測量大尺寸管道,等截面多點(diǎn)布置精確測量氣體流速。
6、 直管段要求很低。 在1.5D的直管段的工況下,仍可保證線性與精度。
7、 差壓信號(hào)大,與畢托管、阿牛巴等相比,可產(chǎn)生大于其2倍的差壓。
折疊編輯本段技術(shù)參數(shù)
1. 測量精度:1%、2%
2. 測量裝置制造材料:S316或Icr18Ni9Ti不銹鋼
3. 測量介質(zhì):干燥的氣體或含粉塵氣體
4. 工作溫度:-100 ~400℃
5. 管道通徑:50㎜≤D≤8000
6. 公稱壓力:PN≤16Mpa
7. 參照標(biāo)準(zhǔn):ISO 3966-197、JB/T5325-1991及GB/T2624-2006
8. 連接方式:插入式法蘭連接,插入式螺紋連接、管道式法蘭連接、管道式螺紋連接
結(jié)構(gòu)形式
風(fēng)速風(fēng)量測量裝置根據(jù)不同的使用場合、不同工況條件和安裝方式分為多種結(jié)構(gòu)。
防堵陳列式風(fēng)量測量裝置:
基于畢托管的測量原理;
測量精度高、良好的線性度與重要性;
可以任意角度安裝;
很高的性價(jià)比,非常經(jīng)濟(jì)的運(yùn)行成本;
可以忽略不計(jì)的管道壓力損失,有效降低風(fēng)機(jī)能耗;
管道內(nèi)截面多點(diǎn)陣列分布,測量速度平均。
靠背測速管,笛形測速管:
兩種都是非標(biāo)準(zhǔn)型測速裝置。
笛行管安裝在管道內(nèi)可一次性測量氣流平均流速。雙笛形管是將全壓測管和靜壓測管組裝在一起,在全壓管的迎流面開有一排全壓測孔,在靜壓管背面開有一派靜壓測管。
靠背管原理與畢托管相似,通過測量總壓與靜壓之差得到動(dòng)壓值。它帶有動(dòng)壓放大性質(zhì),使用前需標(biāo)定。
雙文丘里測速管:
用于電廠鍋爐供風(fēng)和煙氣流速測量;
結(jié)果簡單;
壓力損失小,只占其產(chǎn)生差壓體積的1%左右;
對(duì)直管段的要求不嚴(yán)格;
動(dòng)壓放大倍數(shù)最高,是皮托管、均速管裝置的幾倍甚至十幾倍;
每支雙文丘里測速管在出廠前均經(jīng)過標(biāo)定,附有檢測報(bào)告,安裝 后一般無須再進(jìn)行現(xiàn)場標(biāo)定。
針對(duì)管道內(nèi)的風(fēng)、粉、塵等雜質(zhì)的設(shè)計(jì)而成
硬件檢測卡
硬件檢測卡
硬件檢測卡
代碼 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS
00 . 已顯示系統(tǒng)的配置;即將控制INI19引導(dǎo)裝入。 .
01 處理器測試1,處理器狀態(tài)核實(shí),如果測試失敗,循環(huán)是無限的。 處理器寄存器的測試即將開始,不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。
02 確定診斷的類型(正常或者制造)。如果鍵盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會(huì)失效。 停用不可屏蔽中斷;通過延遲開始。 CMOS寫入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。
03 清除8042鍵盤控制器,發(fā)出TESTKBRD命令(AAH) 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。
04 使8042鍵盤控制器復(fù)位,核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤控制器軟復(fù)位/通電測試。 可編程間隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。
05 如果不斷重復(fù)制造測試1至5,可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位/通電;即將啟動(dòng)ROM。 DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。
06 使電路片作初始準(zhǔn)備,停用視頻、奇偶性、DMA電路片,以及清除DMA電路片,所有頁面寄存器和CMOS停機(jī)字節(jié)。 已啟動(dòng)ROM計(jì)算ROM BIOS檢查總和,以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀/寫測試正在進(jìn)行或失靈。
07 處理器測試2,核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常,鍵盤緩沖器已清除,向鍵盤發(fā)出BAT(基本保證測試)命令。 .
08 使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備,正常的更新計(jì)時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令,即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。
09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實(shí)鍵盤的基本保證測試,接著核實(shí)鍵盤命令字節(jié)。 第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。
0A 使視頻接口作初始準(zhǔn)備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼,即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個(gè)64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈,移位。
0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié),即將發(fā)出引腳23和24的/解鎖命令。 第一個(gè)64K RAM奇/偶邏輯失靈。
0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已/解鎖;已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAN的地址線故障。
0D 1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時(shí)鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試,如果失敗,則鳴喇叭。 已處理NOP命令;接著測試CMOS停開寄存器。 第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈
0E 測試CMOS停機(jī)字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀/寫測試;將計(jì)算CMOS檢查總和。 初始化輸入/輸出端口地址。
0F 測試擴(kuò)展的CMOS。 已計(jì)算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié);CMOS開始初始準(zhǔn)備。 .
10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準(zhǔn)備,CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。
11 測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準(zhǔn)備,即將停用DMA和中斷控制器。 第一個(gè)64DK RAM第1位故障。
12 測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;即將視頻顯示器并使端口B作初始準(zhǔn)備。 第一個(gè)64DK RAM第2位故障。
13 測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用,端口B已作初始準(zhǔn)備;即將開始電路片初始化/存儲(chǔ)器自動(dòng)檢測。 第一個(gè)64DK RAM第3位故障。
14 測試存儲(chǔ)器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化/存儲(chǔ)器處自動(dòng)檢測結(jié)束;8254計(jì)時(shí)器測試即將開始。 第一個(gè)64DK RAM第4位故障。
15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲(chǔ)器。 第2通道計(jì)時(shí)器測試了一半;8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束;8254第1通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第6位故障。
17 調(diào)準(zhǔn)視頻輸入/輸出工作,若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束;8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第7位故障。
18 測試視頻存儲(chǔ)器,如果安裝選用的視頻BIOS通過,由可繞過。 第0通道計(jì)時(shí)器測試結(jié)束;即將開始更新存儲(chǔ)器。 第一個(gè)64DK RAM第8位故障。
19 測試第1通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 已開始更新存儲(chǔ)器,接著將完成存儲(chǔ)器的更新。 第一個(gè)64DK RAM第9位故障。
1A 測試第2通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲(chǔ)器更新線路,即將檢查15微秒通/斷時(shí)間。 第一個(gè)64DK RAM第10位故障。
1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲(chǔ)器更新時(shí)間30微秒測試;即將開始基本的64K存儲(chǔ)器測試。 第一個(gè)64DK RAM第11位故障。
1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個(gè)64DK RAM第12位故障。
1D 調(diào)定CMOS配置。 . 第一個(gè)64DK RAM第13位故障。
1E 測定系統(tǒng)存儲(chǔ)器的大小,并且把它和CMOS值比較。 . 第一個(gè)64DK RAM第14位故障。
1F 測試64K存儲(chǔ)器至最高640K。 . 第一個(gè)64DK RAM第15位故障。
20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲(chǔ)器測試;即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
21 維持不可屏蔽中斷(NMI)位(奇偶性或輸入/輸出通道的檢查)。 通過地址線測試;即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性;將開始串行數(shù)據(jù)讀/寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
23 測試保護(hù)方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀/寫測試正常;即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進(jìn)行或失靈。
24 測定1MB以上的擴(kuò)展存儲(chǔ)器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成,即將開始中斷矢量的初始準(zhǔn)備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存。
25 測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲(chǔ)器。 完成中斷矢量初始準(zhǔn)備;將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入/輸出端口。 裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。
26 測試保護(hù)方式的例外情況。 讀出8042的輸入/輸出端口;即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局?jǐn)?shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備。 開啟A20地址線;使之參入尋址。
27 確定超高速緩沖存儲(chǔ)器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束;接著將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。 鍵盤控制器測試正在進(jìn)行或失靈。
28 確定超高速緩沖存儲(chǔ)器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準(zhǔn)備;即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障/檢查總和計(jì)算正在進(jìn)行。
29 . 已調(diào)定單色方式,即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。
2A 使鍵盤控制器作初始準(zhǔn)備。 已調(diào)定彩色方式,即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。
2B 使磁碟驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束;即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲(chǔ)器測試正在進(jìn)行或失靈。
2C 檢查串行端口,并使之作初始準(zhǔn)備。 完成視頻ROM控制之前的處理;即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失靈。
2D 檢測并行端口,并使之作初始準(zhǔn)備。 已完成任選的視頻ROM控制,即將進(jìn)行視頻ROM回復(fù)控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。
2E 使硬磁盤驅(qū)動(dòng)器和控制器作初始準(zhǔn)備。 從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原;如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA/VGA就要進(jìn)行顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試。 檢測視頻ROM正在進(jìn)行。
2F 檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器,并使之作初始準(zhǔn)備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA/VGA;即將開始顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試。 .
30 建立基本內(nèi)存和擴(kuò)展內(nèi)存。 通過顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試;即將進(jìn)行掃描檢查。 認(rèn)為屏幕是可以工作的。
31 檢測從C800:0至EFFF:0的選用ROM,并使之作初始準(zhǔn)備。 顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試或掃描檢查失敗,即將進(jìn)行另一種顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。
32 對(duì)主板上COM/LTP/FDD/聲音設(shè)備等I/O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲(chǔ)器讀/寫測試;卻將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器(40列)是可以工作的。
33 . 視頻顯示器檢查結(jié)束;將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實(shí)際插卡檢驗(yàn)顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器(80列)是可以工作的。
34 . 已檢驗(yàn)顯示器適配器;接著將調(diào)定顯示方式。 計(jì)時(shí)器滴答聲中斷測試正在進(jìn)行或失靈。
35 . 完成調(diào)定顯示方式;即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機(jī)測試正在進(jìn)行或失靈。
36 . 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū);即將調(diào)定通電信息的游標(biāo)。 門電路中A-20失靈。
37 . 識(shí)別通電信息的游標(biāo)調(diào)定已完成;即將顯示通電信息。 保護(hù)方式中的意外中斷。
38 . 完成顯示通電信息;即將讀出新的游標(biāo)位置。 RAM測試正在進(jìn)行或者地址故障>FFFFH。
39 . 已讀出保存游標(biāo)位置,即將顯示引用信息串。 .
3A . 引用信息串顯示結(jié)束;即將顯示發(fā)現(xiàn)信息。 間隔計(jì)時(shí)器通道2測試或失靈。
3B 用OPTI電路片(只是486)使輔助超高速緩沖存儲(chǔ)器作初始準(zhǔn)備。 已顯示發(fā)現(xiàn)信息;虛擬方式,存儲(chǔ)器測試即將開始。 按日計(jì)算的日歷時(shí)鐘測試正在進(jìn)行或失靈。
3C 建立允許進(jìn)入CMOS設(shè)置的標(biāo)志。 . 串行端口測試正在進(jìn)行或失靈。
3D 初始化鍵盤/PS2鼠標(biāo)/PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點(diǎn)。 . 并行端口測試正在進(jìn)行或失靈。
3E 嘗試打開L2高速緩存。 . 數(shù)學(xué)協(xié)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。
40 . 已開始準(zhǔn)備虛擬方式的測試;即將從視頻存儲(chǔ)器來檢驗(yàn)。 調(diào)整CPU速度,使之與外圍時(shí)鐘精確匹配。
41 中斷已打開,將初始化數(shù)據(jù)以便于0:0檢測內(nèi)存變換(中斷控制器或內(nèi)存不良) 從視頻存儲(chǔ)器檢驗(yàn)之后復(fù)原;即將準(zhǔn)備描述符表。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。
42 顯示窗口進(jìn)入SETUP。 描述符表已準(zhǔn)備好;即將進(jìn)行虛擬方式作存儲(chǔ)器測試。 擴(kuò)展CMOS RAM故障。
43 若是即插即用BIOS,則串口、并口初始化。 進(jìn)入虛擬方式;即將為診斷方式實(shí)現(xiàn)中斷。 .
44 . 已實(shí)現(xiàn)中斷(如已接通診斷開關(guān);即將使數(shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備以檢查存儲(chǔ)器在0:0返轉(zhuǎn)。) BIOS中斷進(jìn)行初始化。
45 初始化數(shù)學(xué)協(xié)處理器。 數(shù)據(jù)已作初始準(zhǔn)備;即將檢查存儲(chǔ)器在0:0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲(chǔ)器的規(guī)模。 .
46 . 測試存儲(chǔ)器已返回;存儲(chǔ)器大小計(jì)算完畢,即將寫入頁面來測試存儲(chǔ)器。 檢查只讀存儲(chǔ)器ROM版本。
47 . 即將在擴(kuò)展的存儲(chǔ)器試寫頁面;即將基本640K存儲(chǔ)器寫入頁面。 .
48 . 已將基本存儲(chǔ)器寫入頁面;即將確定1MB以上的存儲(chǔ)器。 視頻檢查,CMOS重新配置。
49 . 找出1BM以下的存儲(chǔ)器并檢驗(yàn);即將確定1MB以上的存儲(chǔ)器。 .
4A . 找出1MB以上的存儲(chǔ)器并檢驗(yàn);即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 進(jìn)行視頻的初始化。
4B . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗(yàn)結(jié)束,即將檢查和為軟復(fù)位清除1MB以上的存儲(chǔ)器。 .
4C . 清除1MB以上的存儲(chǔ)器(軟復(fù)位)即將清除1MB以上的存儲(chǔ)器. 屏蔽視頻BIOS ROM。.
4D 已清除1MB以上的存儲(chǔ)器(軟復(fù)位);將保存存儲(chǔ)器的大小。 .
4E 若檢測到有錯(cuò)誤;在顯示器上顯示錯(cuò)誤信息,并等待客戶按鍵繼續(xù)。 開始存儲(chǔ)器的測試:(無軟復(fù)位);即將顯示第一個(gè)64K存儲(chǔ)器的測試。 顯示版權(quán)信息。
4F 讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù),進(jìn)行DOS引導(dǎo)。 開始顯示存儲(chǔ)器的大小,正在測試存儲(chǔ)器將使之更新;將進(jìn)行串行和隨機(jī)的存儲(chǔ)器測試。 .
50 將當(dāng)前BIOS監(jiān)時(shí)區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲(chǔ)器測試;即將高速存儲(chǔ)器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。
51 . 測試1MB以上的存儲(chǔ)器。 .
52 所有ISA只讀存儲(chǔ)器ROM進(jìn)行初始化,最終給PCI分配IRQ號(hào)等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲(chǔ)器測試;即將準(zhǔn)備回到實(shí)址方式。 進(jìn)入鍵盤檢測。
53 如果不是即插即用BIOS,則初始化串口、并口和設(shè)置時(shí)種值。 保存CPU寄存器和存儲(chǔ)器的大小,將進(jìn)入實(shí)址方式。 .
54 . 成功地開啟實(shí)址方式;即將復(fù)原準(zhǔn)備停機(jī)時(shí)保存的寄存器。 掃描"打擊鍵"
55 . 寄存器已復(fù)原,將停用門電路A-20的地址線。 .
56 . 成功地停用A-20的地址線;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 鍵盤測試結(jié)束。
57 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半;繼續(xù)進(jìn)行。 .
58 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束;將清除發(fā)現(xiàn)信息。 非設(shè)置中斷測試。
59 . 已清除信息;信息已顯示;即將開始DMA和中斷控制器的測試。 .
5A . . 顯示按"F2"鍵進(jìn)行設(shè)置。
5B . . 測試基本內(nèi)存地址。
5C . . 測試640K基本內(nèi)存。
60 設(shè)置硬盤引導(dǎo)扇區(qū)病毒保護(hù)功能。 通過DMA頁面寄存器的測試;即將檢驗(yàn)視頻存儲(chǔ)器。 測試擴(kuò)展內(nèi)存。
61 顯示系統(tǒng)配置表。 視頻存儲(chǔ)器檢驗(yàn)結(jié)束;即將進(jìn)行DMA#1基本寄存器的測試。 .
62 開始用中斷19H進(jìn)行系統(tǒng)引導(dǎo)。 通過DMA#1基本寄存器的測試;即將進(jìn)行DMA#2寄存器的測試。 測試擴(kuò)展內(nèi)存地址線。
63 . 通過DMA#2基本寄存器的測試;即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 .
64 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半,繼續(xù)進(jìn)行。 .
65 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束;將把DMA裝置1和2編程。 .
66 . DMA裝置1和2編程結(jié)束;即將使用59號(hào)中斷控制器作初始準(zhǔn)備。 Cache注冊表進(jìn)行優(yōu)化配置。
67 . 8259初始準(zhǔn)備已結(jié)束;即將開始鍵盤測試。 .
68 . . 使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。
6A . . 測試并顯示外部Cache值。
6C . . 顯示被屏蔽內(nèi)容。
6E . . 顯示附屬配置信息。
70 . . 檢測到的錯(cuò)誤代碼送到屏幕顯示。
72 . . 檢測配置有否錯(cuò)誤。
74 . . 測試實(shí)時(shí)時(shí)鐘。
76 . . 掃查鍵盤錯(cuò)誤。
7A . . 鎖鍵盤。
7C . . 設(shè)置硬件中斷矢量。
7E . . 測試有否安裝數(shù)學(xué)處理器。
80 . 鍵盤測試開始,正在清除和檢查有沒有鍵卡住,即將使鍵盤復(fù)原。 關(guān)閉可編程輸入/輸出設(shè)備。
81 . 找出鍵盤復(fù)原的錯(cuò)誤卡住的鍵;即將發(fā)出鍵盤控制端口的測試命令。 .
82 . 鍵盤控制器接口測試結(jié)束,即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準(zhǔn)備。 檢測和安裝固定RS232接口(串口)。
83 . 已寫入命令字節(jié),已完成全局?jǐn)?shù)據(jù)的初始準(zhǔn)備;即將檢查有沒有鍵鎖住。 .
84 . 已檢查有沒有鎖住的鍵,即將檢查存儲(chǔ)器是否與CMOS失配。 檢測和安裝固定并行口。
85 . 已檢查存儲(chǔ)器的大小;即將顯示軟錯(cuò)誤和口令或旁通安排。 .
86 . 已檢查口令;即將進(jìn)行旁通安排前的編程。 重新打開可編程I/O設(shè)備和檢測固定I/O是否有沖突。
87 . 完成安排前的編程;將進(jìn)行CMOS安排的編程。 .
88 . 從CMOS安排程序復(fù)原清除屏幕;即將進(jìn)行后面的編程。 初始化BIOS數(shù)據(jù)區(qū)。
89 . 完成安排后的編程;即將顯示通電屏幕信息。 .
8A . 顯示頭一個(gè)屏幕信息。 進(jìn)行擴(kuò)展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。
8B . 顯示了信息:即將屏蔽主要和視頻BIOS。 .
8C . 成功地屏蔽主要和視頻BIOS,將開始CMOS后的安排任選項(xiàng)的編程。 進(jìn)行軟驅(qū)控制器初始化。
8D . 已經(jīng)安排任選項(xiàng)編程,接著檢查滑了鼠和進(jìn)行初始準(zhǔn)備。 .
8E . 檢測了滑鼠以及完成初始準(zhǔn)備;即將把硬、軟磁盤復(fù)位。 .
8F . 軟磁盤已檢查,該磁碟將作初始準(zhǔn)備,隨后配備軟磁碟。 .
90 . 軟磁碟配置結(jié)束;將測試硬磁碟的存在。 硬盤控制器進(jìn)行初始化。
91 . 硬磁碟存在測試結(jié)束;隨后配置硬磁碟。 局部總線硬盤控制器初始化。
92 . 硬磁碟配置完成;即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。
93 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半;繼續(xù)進(jìn)行。 .
94 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢,即調(diào)定基本和擴(kuò)展存儲(chǔ)器的大小。 關(guān)閉A-20地址線。
95 . 因應(yīng)滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲(chǔ)器的大小;即將檢驗(yàn)顯示存儲(chǔ)器。 .
96 . 檢驗(yàn)顯示存儲(chǔ)器后復(fù)原;即將進(jìn)行C800:0任選ROM控制之前的初始準(zhǔn)備。 "ES段"注冊表清除。
97 . C800:0任選ROM控制之前的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束,接著進(jìn)行任選ROM的檢查及控制。 .
98 . 任選ROM的控制完成;即將進(jìn)行任選ROM回復(fù)控制之后所需的任何處理。 查找ROM選擇。
99 . 任選ROM測試之后所需的任何初始準(zhǔn)備結(jié)束;即將建立計(jì)時(shí)器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印機(jī)基本地址。 .
9A . 調(diào)定計(jì)時(shí)器和打印機(jī)基本地址后的返回操作;即調(diào)定RS-232基本地址。 屏蔽ROM選擇。
9B . 在RS-232基本地址之后返回;即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之初始準(zhǔn)備。 .
9C . 協(xié)處理器測試之前所需初始準(zhǔn)備結(jié)束;接著使協(xié)處理器作初始準(zhǔn)備。 建立電源節(jié)能管理。
9D . 協(xié)處理器作好初始準(zhǔn)備,即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之后的任何初始準(zhǔn)備。 .
9E . 完成協(xié)處理器之后的初始準(zhǔn)備,將檢查擴(kuò)展鍵盤,鍵盤識(shí)別符,以及數(shù)字鎖定。 開放硬件中斷。
9F . 已檢查擴(kuò)展鍵盤,調(diào)定識(shí)別標(biāo)志,數(shù)字鎖接通或斷開,將發(fā)出鍵盤識(shí)別命令。 .
A0 . 發(fā)出鍵盤識(shí)別命令;即將使鍵盤識(shí)別標(biāo)志復(fù)原。 設(shè)置時(shí)間和日期。
A1 . 鍵盤識(shí)別標(biāo)志復(fù)原;接著進(jìn)行高速緩沖存儲(chǔ)器的測試。 .
A2 . 高速緩沖存儲(chǔ)器測試結(jié)束;即將顯示任何軟錯(cuò)誤。 檢查鍵盤鎖。
A3 . 軟錯(cuò)誤顯示完畢;即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。 .
A4 . 調(diào)好鍵盤的打擊速率,即將制訂存儲(chǔ)器的等待狀態(tài)。 鍵盤重復(fù)輸入速率的初始化。
A5 . 存儲(chǔ)器等候狀態(tài)制定完畢;接著將清除屏幕。 .
A6 . 屏幕已清除;即將啟動(dòng)奇偶性和不可屏蔽中斷。 .
A7 . 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性;即將進(jìn)行控制任選的ROM在E000:0之所需的任何初始準(zhǔn)備。 .
A8 . 控制ROM在E000:0之前的初始準(zhǔn)備結(jié)束,接著將控制E000:0之后所需的任何初始準(zhǔn)備。 清除"F2"鍵提示。
A9 . 從控制E000:0 ROM返回,即將進(jìn)行控制E000:0任選ROM之后所需的任何初始準(zhǔn)備。 .
AA . 在E000:0控制任選ROM之后的初始準(zhǔn)備結(jié)束;即將顯示系統(tǒng)的配置。 掃描"F2"鍵打擊。
AC . . 進(jìn)入設(shè)置.
AE . . 清除通電自檢標(biāo)志。
B0 . . 檢查非關(guān)鍵性錯(cuò)誤。
B2 . . 通電自檢完成準(zhǔn)備進(jìn)入操作系統(tǒng)引導(dǎo)。
B4 . . 蜂鳴器響一聲。
B6 . . 檢測密碼設(shè)置(可選)。
B8 . . 清除全部描述表。
BC . . 清除校驗(yàn)檢查值。
BE 程序缺省值進(jìn)入控制芯片,符合可調(diào)制二進(jìn)制缺省值表。 . 清除屏幕(可選)。
BF 測試CMOS建立值。 . 檢測病毒,提示做資料備份。
C0 初始化高速緩存。 . 用中斷19試引導(dǎo)。
C1 內(nèi)存自檢。 . 查找引導(dǎo)扇區(qū)中的"55""AA"標(biāo)記。
C3 第一個(gè)256K內(nèi)存測試。 . .
C5 從ROM內(nèi)復(fù)制BIOS進(jìn)行快速自檢。 . .
C6 高速緩存自檢。 . .
CA 檢測Micronies超速緩沖存儲(chǔ)器(如果存在),并使之作初始準(zhǔn)備。 . .
CC 關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。 . .
EE 處理器意料不到的例外情況。 . .
FF 給予INI19引導(dǎo)裝入程序的控制,主板O