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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 文體,電子,印刷包裝 |
XF-S5700型硅油涂布量分析儀是一款面向硅元素檢測的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于硅油涂布行業產品工藝及成本的管理。該產品既可以分析PET薄膜，還可以分析格拉辛、淋膜紙及牛皮紙等多種硅油涂布量。該產品同時支持選裝多位轉盤，裝好樣品后，可一次性檢測10個樣品位。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高。
規格
l 輸入電壓：AC100～240V，50Hz
l 產品包裝尺寸：800mm x 535mm x 450mm
l 產品尺寸：467mm x 345mm x 336mm
l 樣品腔尺寸：306mm x 248mm x 124mm
l 額定功率：<150W
l 毛重：50KG
l 凈重：32KG
l 噪音：50dB
l 使用環境：
n 溫度：15℃～31℃
n 濕度：<70%（不結露）
特點
l 元素檢測范圍：鋁(No.13)～鈦(No.22)
l 分析范圍：0.01~50
l 檢測精度：±0.01
l 檢測樣品： PET離型膜/各類離型紙
l 整張A4紙大小樣品直接測試，不用裁剪取樣
l 1張薄膜或紙張多點連續測試，測試效率高
l 定制TCP/IP協議API接口，支持對模塊的控制、狀態監控及數據采集
l 支持選裝配件：自動轉盤檢測（10位）
核心部件
l 探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器
l 內置工控電腦：NXP IMX8四核A53工控電腦
l 高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
l X射線管：20KV/1mA
n 窗口材料：鈹窗
n 靶材：銀/銠
n 焦點：? 1.0mm
l 準直器：?8mm
軟件版本
l Linux內核版本：4.14.98
l XRF軟件版本：V1.2.0
l RTM版本：R10101570001-210218
l 系統固件版本：V8.03(B02)
l DSP固件版本：V6.10
硬件接口（背面）
前面板
右側面
軟件接口
見《XF-S5700通訊協議》手冊。
附件
序號 | 名稱 | 數量 | 規格 |
1. | 飛利浦顯示器 | 1 | 24吋 |
2. | 標簽打印機 | 1 | 220×160×110mm |
3. | 標簽紙1 | 1 | 50×70mm |
4. | 標簽紙2 | 1 | 50×15mm |
5. | 220V電源線 | 1 | 2米 |
6. | 增益天線 | 1 | 1個 |
7. | 網線 | 1 | 1.5米 |
8. | 防塵罩 | 1 | 西凡儀器制 |
9. | 樣品壓塊 | 1 | ?35/高30mm |
10. | 通道校正塊 | 1 | Φ40/高10mm |
11. | 薄膜樣品杯 | 1 | Φ39/高35mm |
12. | 薄膜紙張取樣器 | 1 | 10mm2樣品量 |
13. | 取樣用硅膠墊 | 1 | 300×200×8mm |
14. | 支撐薄膜 | 20 | 厚度：4微米 |
15. | 鍵鼠套裝 | 1 | 羅技 |
16. | 操作說明書 | 1 | A4 |
17. | 出廠檢測報告 | 1 | A4 |
18. | 儀器資質文件 | 1 | A4 |
19. | 儀器出廠校準報告 | 1 | A4 |
20. | 配件樣品盒 | 1 | 隨機 |
產品尺寸圖
保養與校正
l XF-S5700需要放置在干燥常溫環境下，如果長時間不使用，請拔出電源插頭，取出鍵盤和鼠標中的電池，用防塵罩罩住分析儀。
l 如儀器外殼的金屬板上有可目視發現的污垢，請用稀釋后的中性清潔劑和柔軟的布來進行清潔，之后請使用干布擦去水分。（不可使用酒精清洗）
l 儀器背部有X射線鎖，使用時請確認其在允許位置。
l 每天第一次開機，需要正常熱機5分鐘，非緊急狀態不要取消預熱過程。
l 長時間不使用的情況下，需要每周開機測試任意樣品半小時，保持X射線管干燥。
l 校正使用隨機附送的標準塊，軟件接口選擇“峰位校正”后，S5700會自動校準譜形能量刻度。通常建議一周一次。
注意事項
l 樣品在測試中或測試完成后，X射線依然處于激發狀態，開蓋后系統會自動切斷X射線電源，保證輻射安全。
l 主機突然斷電可能會導致儀器內置工控電腦文件丟失，確保使用UPS，在需要關閉設備電源前，確保先關閉軟件。
l 樣品支撐膜主要是防止灰塵進入儀器內部，如果出現破損，需要及時更換。
修改歷史
日期 | 版本 | 修訂記錄 |
2021/03/18 | V1.00 | 初始化版本。 |
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