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日立分析儀器(上海)有限公司

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熒光分布成像系統 EEM® View

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深圳市矢量科學儀器有限公司秉承“合作共贏,助力科研,促進工業”的理念,信
守“的承諾,提供分離/分光分析、元素/物性檢測分析、表面檢測分析及生化檢測分析儀器,服務于科研、教育、醫院、藥業、石油、環保及生命科學等領域,公司以深圳為核心,在成都、武漢等地設有分公司,業務范圍輻射周邊各地,涵蓋各科研院所、大學、醫院、生物制藥單位,食品化工、檢驗檢測、環保行業以及加工制造業等。
本公司與日本HITACHI、美國Agilent、美國Thermo Fisher、德國Eppendorf等建立戰略合作關系,以華南區為核心,輻射周邊各地進行品牌推廣,產品銷售、售后服務,與清華大學、北京大學、武漢大學等全國名校建立了良好的合作關系。不斷優化公司架構模式,提高服務質量及效率,致力于推動沿技術和產品的應用,打造成為國內的儀器、裝備服務商以及制造商。

 

液相色譜儀 ,紫外可見分光光度計 ,熒光分光光度計,離心機,掃描電子顯微鏡、、氨基酸分析儀 、探針臺 、生化分析儀 、原子吸收分光光度計 、X射線衍射儀 、氣相色譜儀 、鍍層測厚儀 、原子力顯微鏡 、離子色譜儀 、核酸提取系統 、納米庫爾特粒度儀

價格區間 面議 接收器類 CMOS
儀器結構 雙光束 應用領域 醫療衛生,環保,食品,化工,生物產業
自動程度 自動波長

 

熒光分布成像系統 EEM® View
什么是EEM View
 
新技術可同時獲得熒光 · 反射圖像和光譜
測定樣品的光譜數據(反射光譜、熒光光譜)
在不同光源條件(白光和單色光)下拍攝樣品
 (區域:Φ20 mm、波長范圍:380~700 nm)
采用AI光譜圖像處理算法*1,能夠分別顯示樣品熒光圖像和反射圖像
根據圖像可獲得不同區域的光譜信息*1(熒光光譜、反射光譜)

 

計算系統是國立信息學研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果
EEM View Analysis 界面(樣品:LED電路板)
 
熒光分布成像系統 EEM® View
熒光分布成像系統概要
均勻的光源系統
同時獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜!
積分球漫反射使光源均勻化
利用積分球收集的光均勻照射樣品
采用熒光檢測器和CMOS相機雙檢測模式
新型熒光分布成像系統可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內。入射光經過積分球的漫反射后均勻照射到樣品,利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,結合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像,并利用*的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光圖像。
 
樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試!
樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!
 
 
板狀樣品:通過石英窗安裝樣品。
粉末樣品:將粉末填充至樣品平整夾具中,置于粉末樣品池支架,或使用選配件固體樣品支架中的粉末樣品池安裝樣品。
 
校正時,需放置好熒光標準樣品。
請使用選配的標準白板(100 %)和空白樣品(0 %)進行校正。此校正工具可被應用于熒光強度、反射率校正, 以及圖像不同區域的亮度分布校正。
 
 
 
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