熒光分布成像系統 EEM® View
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 深圳市矢量科學儀器有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2021/7/6 17:12:41
- 訪問次數 540
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液相色譜儀 ,紫外可見分光光度計 ,熒光分光光度計,離心機,掃描電子顯微鏡、、氨基酸分析儀 、探針臺 、生化分析儀 、原子吸收分光光度計 、X射線衍射儀 、氣相色譜儀 、鍍層測厚儀 、原子力顯微鏡 、離子色譜儀 、核酸提取系統 、納米庫爾特粒度儀
價格區間 | 面議 | 接收器類 | CMOS |
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儀器結構 | 雙光束 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,食品,化工,生物產業 |
自動程度 | 自動波長 |
熒光分布成像系統 EEM® View
什么是EEM View
新技術可同時獲得熒光 · 反射圖像和光譜
• 測定樣品的光譜數據(反射光譜、熒光光譜)
• 在不同光源條件(白光和單色光)下拍攝樣品
(區域:Φ20 mm、波長范圍:380~700 nm)
• 采用AI光譜圖像處理算法*1,能夠分別顯示樣品熒光圖像和反射圖像
• 根據圖像可獲得不同區域的光譜信息*1(熒光光譜、反射光譜)
計算系統是國立信息學研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果
EEM View Analysis 界面(樣品:LED電路板)
熒光分布成像系統 EEM® View
熒光分布成像系統概要
均勻的光源系統
同時獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜!
• 積分球漫反射使光源均勻化
• 利用積分球收集的光均勻照射樣品
• 采用熒光檢測器和CMOS相機雙檢測模式
新型熒光分布成像系統可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內。入射光經過積分球的漫反射后均勻照射到樣品,利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,結合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像,并利用*的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光圖像。
樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試!
樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!
• 板狀樣品:通過石英窗安裝樣品。
• 粉末樣品:將粉末填充至樣品平整夾具中,置于粉末樣品池支架,或使用選配件固體樣品支架中的粉末樣品池安裝樣品。
• 校正時,需放置好熒光標準樣品。
• 請使用選配的標準白板(100 %)和空白樣品(0 %)進行校正。此校正工具可被應用于熒光強度、反射率校正, 以及圖像不同區域的亮度分布校正。
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