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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>其它無損檢測儀器/設備>CSK-IIA系列試塊 超聲波試塊

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CSK-IIA系列試塊 超聲波試塊

參考價 640.00-3300.00
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 濟寧儒佳檢測儀器有限公司
  • 品牌其他品牌
  • 型號CSK-IIA系列試塊
  • 所在地濟寧市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2023/5/23 20:40:08
  • 訪問次數 2613
規格
CSK-IIA-1640.00元999 件可售
CSK-IIA-21800.00元99 件可售
CSK-IIA-33300.00元996 件可售

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


濟寧儒佳檢測儀器有限公司是專業的多功能磁粉探傷儀,工業X射線探傷機,X射線探傷機廠家模擬超聲波探傷儀廠家,主要產品有:多功能磁粉探傷儀,工業X射線探傷機,X射線探傷機,模擬超聲波探傷儀等,是一家集科、工、貿于一體的專業無損檢測器材及理化設備供應商。公司員工專科以上學歷占90%以上,公司具有雄厚的科研力量,與國內外院校及科研單位有著廣泛的合作。
 公司致力于做好超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、X射線探傷機、觀片燈、黑白密度計、全自動洗片機、膠片烘干箱、里氏硬度計、超聲波探頭的基礎上,還代理了國內外的相關儀器,并擁有國內眾多工業領域產品的中國區代理權和一支的采購團隊,為國內企業客戶提供高性能的國產及進口工業設備。
 目前我們代理的品牌有:
 1、日本理學株式會社(進口X射線探傷機)一級代理商;
 2、YXLON(依科斯朗)射線探傷機一級代理商;
 3、德國布魯克BRUKER公司(X熒光直讀合金光譜儀)一級代理商;
 4、牛津儀器公司Oxford Instruments授權代理商;
 5、廣東汕頭超聲電子股份有限公司超聲儀器分公司(TOFD成像檢測儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀)特約售后服務網點、授權一級代理商;
 6、武漢中科創新股份有限公司(TOFD成像檢測儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀)山東省授權代理商;
 7、汕頭超聲儀器研究所(TOFD成像檢測儀、超聲波探傷儀、相控陣探傷儀)特約售后服務網點、授權一級代理商;
 8、山東濟寧模具廠超聲波試塊一級代理商。
 9、大連希奧特射線機、觀片燈、黑度計一級代理商。
 公司下設開發部、采購部、生產部、銷售部、質檢部、售后服務等多個部門。并致力于為廣大用戶提供性能更好、質量更優、價位更低的儀器和更加專業周到的服務。做到一個客戶一個方案,為您量身打造周到細致、專業的技術指導和貼心一站式的服務。濟寧儒佳檢測儀器有限公司愿與廣大用戶和同行一道為無損檢測儀器行業技術提高而努力奮斗。

 

超聲波探傷儀,超聲波測厚儀,磁粉探傷儀,紫外線熒光探傷燈,X射線探傷儀,觀片燈,黑白密度計,全自動洗片機,便攜式看譜鏡,里氏硬度計,電火花防腐層檢測儀等

產地類別 國產 價格區間 1千-5千
應用領域 醫療衛生,化工,石油,航天,綜合

超聲波試塊

超聲波試塊

CSK-IIA系列試塊 - NB/T47013-2015 承壓設備無損檢測超聲波探傷


CSK-ⅡA-1#測試方法:(1)橫波靈敏度的設定:將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,。探頭置于示意圖中b位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中c位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中d位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中e位置,前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中f位置,前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。將以上六點連成一條曲線即為標準中規定的基準線。該類試塊依據承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計,適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內容見下表:

  1. 縱波靈敏度設定:將選用已校驗好的直探頭置于示意圖中g位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,探頭置于示意圖中h位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中i位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中j位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中k位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中L位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。將以上六點連成一條曲線即為標準中規定的基準線,此時的靈敏度即為基準靈敏度。

CSK-ⅡA-2#測試方法:1)橫波靈敏度的設定:將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值。探頭置于示意圖中b位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中c位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中d位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中e位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中f位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。探頭置于示意圖中g位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第七點。探頭置于示意圖中h位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第八點。探頭置于示意圖中i位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第九點。探頭置于示意圖中j位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第十點。將以上十點連成一條曲線即為標準中規定的基準線。

2)縱波靈敏度設定:將選用已校驗好的直探頭置于示意圖中k位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值。探頭置于示意圖中l位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點。探頭置于示意圖中m位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。探頭置于示意圖中n位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。探頭置于示意圖中o位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。探頭置于示意圖中p位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。探頭置于示意圖中q位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第七點。探頭置于示意圖中r位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第八點。將以上八點連成一條曲線即為標準中規定的基準線,此時的靈敏度即為基準靈敏度。

 



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