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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學顯微鏡>激光共聚焦顯微鏡> NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統

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NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 Nanoscope Systems lnc
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2024/6/5 16:27:19
  • 訪問次數 2275

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Nanoscope Systems(納茲克股份有限公司)是一家專門從事共聚焦顯微鏡研發和生產的韓國公司,公司坐落于擁有韓國硅谷之稱的大田廣域市,公司周圍集中了大量高校以及高新技術企業,與韓國LGSK海力士、三星、ANI Humen,KAISTKBSI、首爾大學、釜山大學、NTU Southeast University等多家企業高校合作。憑借先進的光學技術,Nanoscope Systems向工業領域、低維材料領域、航空航天領域、化學領域、醫學領域、生命科學等領域提供了專業、精密的產品。迄今為止,Nanoscope Systems 已經成為韓國先進光學技術代表企業之一。

自創立以來Nanoscope Systems專注于提高產品的性能,嚴謹細致的工作態度是我們產品質量的保障,自由的管理風格構成了公司*的文化。憑借優質的服務質量、高素質的銷售團隊以及具有豐富儀器技術和應用知識的技術支持團隊和售后團隊, Nanoscope System獲得了各大企業和科研院校的好評。

Nanoscope Systems (中國)

為了更好的適應中國市場發展的需要,Nanoscope Systems(中國)將總部設在上海,并在全國各地設有測試中心,而上海巨納科技有限公司作為韓國Nanoscope Systems 在中國Exclusive dealer,全權負責Nanoscope Systems 在中國的全部商務活動。



“激光共聚焦顯微鏡” “激光熒光共聚焦顯微鏡” “熒光顯微鏡” “拉曼光譜儀”

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 能源,電子,冶金,航天,汽車 激光 405nm

NS-3500H 是一種準確、可靠的三維(3D)掃描系統,通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構,可以為半導體晶片,FPD產品,MEMS設備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

Features & Benefits(性能及優勢):

  • 高分辨無損傷光學3D測量                               自動傾斜補償

  • 實時共焦成像                                                 簡單的數據分析模式

  • 多種光學變焦                                                 雙Z掃描

    大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測

  • 實時CCD明場和共聚焦成像                            無樣品準備


Application field(應用領域):

NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

可測量微米和亞微米結構的高度,寬度,角度,面積和體積,例如

-半導體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測,CMP工藝

- FPD產品:觸摸屏屏幕檢測,ITO圖案,LCD柱間距高度

- MEMS器件:結構三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形

-玻璃表面:薄膜太陽能電池,太陽能電池紋理,激光圖案

-材料研究:模具表面檢測,粗糙度,裂紋分析

Dimension(尺寸):

Specification(規格):


?Model

Microscope  NS-3500

備注


                     NS-3500E

物鏡倍率

10x

20x

50x

100x

150x


觀察/  測量范圍  

水平 (H): μm

1400

700

280

140

93


垂直 (V): μm

1050

525

210

105

70


工作范圍: mm

16.5

3.1

0.54

0.3

0.2


數值孔徑(N.A.)

0.30

0.46

0.80

0.95

0.95


光學變焦

x1 to x6


總放大倍率

178x to 26700x


觀察/測量光學系統  

Pinhole共聚焦光學系統


高度測量

測量掃描

長掃描 : 10 mm


顯示分辨率

0.001 μm


重復率 σ

0.010 μm

注 1

寬度測量

顯示分辨率

0.001 μm


重復率 3σ

0.02 μm

注 2

幀記憶

像素

1024x1024, 1024x768, 1024x384,   1024x192, 1024x96


單色圖像

12 bit


彩色圖像

8-bit for RGB each


高度測量

16 bit


幀速率

表面掃描

20 Hz to 160 Hz


線掃描

~8 kHz


自動功能

自動增益


激光共焦測量光源

波長

405nm


輸出

~2mW


激光等級

Class 3b


激光接收元件

PMT (光電倍增管)


光學觀察光源

10W LED


光學觀察照相機

成像元件

1/2” 彩色圖像 CCD 傳感器


記錄分辨率

640x480


自動調整

增益, 快門速度, White balance


數據處理單元

PC


電源

電源電壓

100 to 240 VAC, 50/60 Hz


電流消耗

500 VA max.


重量

顯微鏡

Approx. ~200 kg

(Measuring head unit : ~12 kg)


控制器

~8 kg


注1 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品(步長1μm)進行100次測量                                                                    

注 2 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品(5μm間距)進行100次測量。





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