Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 冠乾科技（上海）有限公司
品牌 Bruker/布魯克
型號(hào)
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時(shí)間 2024/6/19 12:16:29
訪問次數(shù) 2474

產(chǎn)品標(biāo)簽

光學(xué)輪廓儀立體顯微鏡納米光學(xué)顯微鏡干涉輪廓儀非接觸光學(xué)輪廓儀

在線交流發(fā)送詢價(jià) 進(jìn)入商鋪同類產(chǎn)品

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù)，為客戶把握工藝過程，得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思，希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái)，以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊，技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù)，我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備：真空鍍膜機(jī)；離子束刻蝕機(jī)，ICP刻蝕機(jī)，等

產(chǎn)品線豐富，元素分析:原子吸收,氣相色譜，液相色譜，氣質(zhì)聯(lián)用，紫外分光光度計(jì)等；熱分析：材料表面分析：原子力顯微鏡，光學(xué)輪廓儀，摩擦磨損等；通用分析：掃描電鏡，

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器：
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

展開

原子力顯微鏡，摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)，超景深顯微鏡，鍍膜機(jī)

解決方案

【電子檢測(cè)】三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的解決方案04月09日

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	產(chǎn)品種類	非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價(jià)格區(qū)間	100萬-200萬	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,電子,交通,航天,汽車

Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性，可以提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。

它的操作和分析軟件系統(tǒng)提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)潔的功能，可以訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測(cè)量分析，可用于表面粗糙度，RDLxian進(jìn)封裝工藝厚度等測(cè)試。

滿足計(jì)量要求，具有很好的Z軸分辨率和準(zhǔn)確性，并在更小的占地面積內(nèi)提供了布魯克白光干涉儀（WLl）落地式型號(hào)所具備的業(yè)界認(rèn)可的優(yōu)點(diǎn)。它對(duì)反射率從0.05%到100 %的各種表面都非常易于測(cè)量。

Contour 高精度三維形貌計(jì)量光學(xué)輪廓儀擁有三款型號(hào)，分別是GT100、GT200、GT500，它們的技術(shù)參數(shù)如下：

型號(hào)	GT100	GT200	GT500
圖片
樣品臺(tái)區(qū)別	手動(dòng)樣品臺(tái)	自動(dòng)樣品臺(tái)	高級(jí)自動(dòng)化樣品臺(tái)
技術(shù)參數(shù)	掃描量程：≤10mm 垂直分辨率：＜0.01nm 水平分辨率：0.38μm min（Sparrow criterion），0.13μm（with AcuityXR）臺(tái)階高度準(zhǔn)確性：＜0.75% 臺(tái)階高度重復(fù)性：＜0.1% 1 sigma repeatability 掃描速度：37μm/sec(with standard camera) 樣品傾角：≤40°（shiny surfaces），≤87°（rough surfaces）樣品高度：≤100mm（4 in.）