三維光學顯微鏡

布魯克作為三維表面測量與觀察業界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機電系統）到宏觀如發動機腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代，在原有Wyko®專有技術基礎上，不斷積累創新，來保證面對各種應用環境時三維測量所需的高靈敏度和穩定性；而這一挑戰往往是其他測量技術或測量系統難以克服的。

布魯克三維光學顯微系統在業界一直以佳服務和支持著稱，在性能穩定性上一貫口碑良好。從研究型實驗室到生產型車間和半導體無塵間，數以幾千計的系統被廣泛使用。作為專門為先進質量控制和研發設計的測量儀器，可用于精密加工制造類應用的監控，在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽能、半導體和醫療器械領域，布魯克總有一款適合您應用和與預算的三維光學顯微測量系統。

ContourX-100 3D光學輪廓儀

粗糙度測量的精簡而經濟的臺式

ContourX-100光學輪廓儀以佳的價格為準確和可重復的非接觸式表面計量樹立了新的*。小尺寸系統采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測量功能，并結合了數十年專有的布魯克白光干涉測量（WLI）創新技術。具有測量功能的臺式系統具有業界先進的用戶友好界面，可直觀訪問廣泛的預編程過濾器庫，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦學應用分析。下一代增強功能包括新的5 MP攝像頭，更新的載物臺和新的測量模式，以實現更大的靈活性。您不會發現比ContourX-100更有價值的臺式設備。

ContourX-100 3D光學輪廓儀

輪廓GT-K

的計量

ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計量，表征和成像領域超過四十年的專有光學創新和行業ling dao者的結晶。該系統利用3D WLI和2D成像技術在一次采集中進行多種分析。 ContourX-100在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

輪廓X-100

WLI為所有目標提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-100

ContourX-100手動平臺。

的價值和分析

ContourX-100臺式機具有成千上萬的定制分析功能以及布魯克簡單而強大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面，為實驗室和工廠車間的生產率進行了優化。硬件和軟件相結合，可提供對ding 級高通量光學性能的簡化訪問，*超越了同類計量技術。

ContourX-200 3D光學輪廓儀

用于表面紋理計量的靈活臺式

ContourX-200光學輪廓儀將先進的特性，可自定義的選項以及易用性完美融合，可提供yi 流的快速，準確和可重復的非接觸式3D表面度量。具有測量功能的小尺寸系統使用較大的FOV 5 MP數碼相機和新型電動XY位移臺，可提供毫不妥協的2D / 3D高分辨率測量功能。 ContourX-200還配有業界先進的操作和分析軟件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡化的功能，可訪問廣泛的預編程濾鏡和分析庫，用于精密加工的表面，厚膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學應用。 ContourX-200具有的Z軸分辨率和精度，在不限制傳統共聚焦顯微鏡和競爭性標準光學輪廓儀的情況下，提供了布魯克專有的白光干涉儀（WLI）技術的所有業界*的優勢。

ContourX-200 3D光學輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協的yi 流計量

基于ContourX-200光學輪廓儀超過四十年的專有WLI創新，該輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲，高速，高精度和高精度結果。通過使用多個目標和集成的特征識別功能，可以在各種視野內以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業中的質量控制和過程監控應用提供了與比例無關的結果。 ContourX-200在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

輪廓X-200

WLI為所有目標提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動載物臺。

廣泛的應用分析能力

利用強大的VisionXpress和Vision64用戶界面，ContourX-200提供了數千種定制分析，以提高實驗室和工廠車間的生產率。系統新相機提供的更大FOV和新型電動XY工作臺提供的靈活性，為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結合，可提供對ding 級光學性能的簡化訪問，*超越了同類計量功能。

ContourX-500 3D光學輪廓儀

用于3D計量的全自動臺式

ContourX-500光學輪廓儀是用于快速，非接觸式3D表面度量的世界上全面的自動化臺式系統。該系統集成了布魯克專有的傾斜/傾斜光學頭，可以*編程，以在一定角度范圍內測量表面特征，同時大程度地減少跟蹤誤差。具有測量功能的ContourX-500具有的Z軸分辨率和精度，并在更小的占地面積下提供了布魯克白光干涉儀（WLI）落地式機型的所有業界*的優勢。利用業界先進的用戶界面，ContourX-500可以直觀地訪問廣泛的預編程過濾器和分析庫。借助其新的USI通用掃描模式，可以輕松地針對廣泛的復雜應用定制分析器，從精密加工表面和半導體工藝的QA / QC計量學到眼科和MEMS器件的R＆D表征。

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ContourX-500 3D光學輪廓儀

輪廓GT-K

先進的自動化

布魯克專有的頭部傾斜/傾斜為生產設置和檢查提供了的用戶靈活性。通過將自動傾斜/傾斜功能與顯微鏡頭中的光路相結合，布魯克將檢測點與視線相結合，而與傾斜無關。這樣可以減少操作員的干預，提供大的可重復性。此功能與自動登臺和物鏡相結合，使ContourX-500非常適合“按需測量”的工業需求，而且占地面積小。

輪廓X-500

傳統的俯仰和滾動舞臺設計需要操作員進行調整

五個運動軸以保持在線的檢查點

視線進行測量。頭部*的布魯克提示/傾斜

設計在檢查點上保持了視線-

不論傾斜度如何-都能優化圖像采集和

快的數據記錄時間。

輪廓X-500

WLI為所有目標提供恒定且終的垂直分辨率。

的價值和分析

ContourX-500具有成千上萬的自定義分析功能以及布魯克簡單易用但功能強大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面，為實驗室和工廠車間的生產率進行了優化。這種*的硬件和軟件組合提供了對高可重復性和高通量計量學測量的簡化訪問，從而超過了同類計量能力。