產品簡介

Insplorion 納米等離子體傳感分析儀  X1儀器的開發是為了從室溫到600℃原位和實時研究，比如氣體吸附/吸收過程或與催化相關的薄的聚合物膜和材料的相轉變（比如：Tg）。

X1測量幾乎任何納米材料或薄膜、電介質以及金屬的結構或介電變化，如由氣體成分或溫度坡道引起的變化。Insplorion x1儀器包括快速啟動和生成高質量數據所需的一切。儀器有兩個樣品位置，允許進行兩次平行測量。我們提供的產品包括所有硬件、軟件、支持和初步培訓，幫助您開始并理解獲得的結果。

Insplorion X1使用遠程光學讀數，因此只需要將傳感器芯片而非敏感光學設備放置在反應室內。因此，X1可以在高溫（highest 600°C）和常壓（大氣）下工作，并且仍然保持高分辨率和靈活性。

技術指標

高溫反應器

* Insplorer軟件兼容Bronkhorst®品牌的質量流量控制器

傳感器芯片

光學讀數性質

*可自定義選項和可替換，**可自定義波長范圍，***在液相環境中的采樣速率達到1Hz

尺寸（寬度x深度x高度）

軟件

應用領域

一、氫氣傳感/貯存

Insplorion NPS技術為儲氫和固態反應領域的研究者提供了一種新的、強大的研究工具，以克服眾多的實驗挑戰。NPS的測量集中在一個明確的模型系統上，在“運行”條件下和受控的微環境中使用少量的樣品。這導致了各種梯度的最小化，以及廣泛的粒徑分布的扭曲。高時間分辨率使快速變化過程能夠在高溫下的固態反應中被監控。

成功故事NPS技術已成功地用于解決納米儲存實體儲氫領域的以下問題：1、在D<5nm尺寸范圍內，鈀納米粒子的氫化和脫氫動力學的尺寸依賴性。
2、在D<5nm尺寸范圍內，鈀納米粒子氫化物形成和分解熱力學的尺寸依賴性。
3、金屬納米粒子中氫化物形成與分解之間的尺寸依賴性滯后現象的研究。
4、鎂和鈀納米粒子氫化物形成熱力學的定量單粒子研究。

二、超薄的聚合物膜和納米結構/納米粒子的玻璃化轉變溫度

在超薄聚合物膜中，玻璃化轉變溫度Tg因近表面層（幾納米厚）的存在而變得尺寸/厚度依賴，其中聚合物片段具有不同的流動性。Insplorion的NPS技術為聚合物薄膜領域的研究者提供了一個研究相變的強大工具。      

NPS技術已成功地用于解決以下現象：
1、無規聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）玻璃化轉變溫度（Tg）薄膜的厚度依賴性。
2、聚苯乙烯（PS）納米粒子中玻璃化轉變溫度（Tg）的尺寸依賴性。