快速溫變綜合試驗箱用途介紹

?設備主要應用在航空航天工業(yè)、國防研發(fā)、高校院所科研、芯片制備、IC封裝、半導體器件、新能源動力電池、光電通訊器件、智能手機研發(fā)、5G通訊產(chǎn)業(yè)等單位及行業(yè)。通過將溫度快速升降加速技巧對產(chǎn)品及零部件進行高溫與低溫上下極值快速溫變測試（溫度應力篩選），透過溫度冷熱交替膨脹和收縮加速應力來發(fā)現(xiàn)潛存于產(chǎn)品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵得到提前曝露，避免產(chǎn)品在使用過程中受到溫度環(huán)境應力的考驗時而導致失效。是品管工程和產(chǎn)品研發(fā)、分析的可靠性快速解決方案。

快速溫變綜合試驗箱技術參數(shù)

1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標機型）

2.溫度范圍：-70℃～+150℃。

3.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性溫變）

4.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

5.溫度波動度：±0.5℃。

6.溫度均勻度：±2.0℃。

7.溫度值偏差：≤±2.0℃。

8.承載重量：8.0kg。

9.功率：8.0KW～35.0KW。

10.電源：AC380V（五線制）±5%。

11.制冷系統(tǒng)：*壓縮機低噪音模塊化設計二元復疊熱交換水冷式制冷機組。

12.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。

13.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

14.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護、漏電保護、內(nèi)箱超溫保護、加熱管空焚保護。

15.標準配置：觀測窗一個、LED視窗燈一支、保險管2支、物料架2套。

16.快速溫度變化試驗箱標準型號及規(guī)格選擇如下，可按需求非標定制。

 型 號        內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-500L    W800×H900×D700     W1100×H2100×D1450

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

快速溫變試驗箱特點

1.溫度快速升降溫試驗箱經(jīng)提取歐美及日本設計與制造工藝理念，采用前沿的制冷控制模式，可使輸出功率從0%～100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷量，較傳統(tǒng)平衡調(diào)溫調(diào)濕模式耗能減少30%。制冷系統(tǒng)為*壓縮機低噪音模塊化二元復疊熱交換水冷式機組設計，可使溫度循環(huán)按線性與非線性快速溫變，同時快速溫變速率可實現(xiàn)5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。

2.制冷及電控、溫控系統(tǒng)關鍵配件均采用，每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保設備運行期間高可靠性，使設備的綜合性能得到*釋放提升。

3.USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足用戶多種需要，實現(xiàn)運行數(shù)據(jù)交換功能，能與用戶主機連接進行遠程操控，實時了解設備運行狀況，可通過任何移動終端監(jiān)控。

4.可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制，具備高低溫快速溫變（溫度應力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環(huán)試驗、溫濕度循環(huán)試驗、恒溫恒濕試驗、結露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產(chǎn)品在惡劣復雜氣候環(huán)境條件下的試驗。

溫度快速升降溫試驗箱參考標準

1.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

2.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

3.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。

4.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

5.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

6.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。

7.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

8.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。

9.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。

10.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。