Bruker  臺階儀  Dektak XT概述

Bruker  臺階儀  Dektak XT也叫布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5?。這一里程碑式的產品源自于Dektak系列占據業界ling xian地位長達四十年的優異表面測量技術。實現了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫療、科學研究和材料科學領域大顯身手。

臺階高度重復性優于5埃（<5 ?）

· 單拱龍門式設計實現了突破性的掃描穩定性

· 先進的”智能化電子器件”實現了低噪聲的新*

操作簡便，高效易用

· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程

· *的傳感器設計使得在單一平臺上即可實現超微力和較大的力測量

· 自對準的探針設計使用戶可以輕而易舉地更換探針

探針式輪廓儀的ling 導 zhe

· 性能zhuo yue，物超所值

· 完備的零配件為您優化或延伸機臺的多種應用提供保障