本微區(qū)反射光譜儀，可實(shí)現(xiàn)微小區(qū)內(nèi)（30um）反射率測(cè)量，并非采用縮小光纖直徑實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域，是真正的微區(qū)測(cè)定；可成像，解析度高，聚焦與離焦的反射率差別很大；微小目標(biāo)區(qū)內(nèi)的雜質(zhì)能很靈敏的反映出來。
測(cè)定波長(zhǎng)：300-1100nm；
分辨率：1nm；
測(cè)量光斑尺寸：30um；
測(cè)試時(shí)間：幾秒到十幾秒；

特點(diǎn)：

 可測(cè)定微小，超薄，曲面樣品的反射率，不受樣品背面反射光影響；

 適合曲面反射率，鍍膜評(píng)價(jià)，微小區(qū)域的反射率測(cè)定，無損測(cè)量理想方案；

 用物鏡對(duì)焦于樣品表面的微小光斑（30um），可測(cè)定鏡面曲面，以及鍍膜層是否均勻；

 采用 OLYMPUS科研級(jí)顯微鏡，共聚焦光路設(shè)計(jì)，更能快速測(cè)量出微小區(qū)域的反射率；

 可以根據(jù)客戶需求，調(diào)整儀器的性能與功能。