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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>光學薄膜測量設備>GL-SPM-D2T 光學薄膜測量儀

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GL-SPM-D2T 光學薄膜測量儀

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  尤尼柯(上海)儀器有限公司,系實驗室分析儀器專業制造商。主要產品為紫外可見分光光度計便攜式可見分光光度計雙光束紫外可見分光光度計掃描型紫外可見分光光度計。公司秉承優質的服務水準,憑借較早的設計理念與高新技術的*結合,先進的制造管理系統和質量控制,作為的分光光度計品牌商家,尤尼柯為世界各地用戶提供了高質量的產品、技術和服務。
  公司向中國市場推出了十幾款不同檔次、不同用途的紫外-可見、可見分光光度計,以優良的性能價格比,適應不同廠商用戶的不同要求,贏得了用戶的歡迎,特別在中國高校,科研院所中得到了廣泛的使用。 
  我們的信譽源自于產品具有高水平的工作特性和穩定性,這些都得益于采用了廠家精心的設計、精選的部件和嚴格的質量控制。

公司已獲得: 
  ISO9002質量體系認證(注冊證號:CCQE0800B0059) 
  中國國家技術*“制造計量器具許可證”(滬制02270144號) 
  上海高校4.5億實驗室改造工程推薦產品(可見/紫外可見分光光度計)

分光光度計,紫外可見分光光度計,掃描型紫外可見分光光度計

應用領域 綜合
    GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀?——手機屏透過率檢測系統是能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢的儀器。

    光學薄膜測量儀能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量,塑料制品的透光率測量,透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

    GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀規格參數:

項目 指標 備注
波長范圍 190-800nm 取決于光柵
光譜分辨率 FWHM0.84@577μm狹縫 與波長和狹縫有關
雜散光 0.06%@532nm,0.045%@785 與波長有關
光源 20W鹵素燈、氘燈  
積分時間 8ms-15min 與CDD有關
電源 220V@50Hz  
USB數據線 1.5m帶有USBmini-B接頭的數據線  
光譜儀自動配置 自動配置包括讀標定參數  
數據輸出 灰度值隨波長或CCD像素變化(可選擇)  
尺寸 450mm*300mm*207mm  
重量 6.5KG  
工作溫度 0℃~45℃  


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