Surtronic DUO分體式粗糙度測量儀

 Surtronic DUO粗糙度儀是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測Ra，Rz兩種參數。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。

表面粗糙度基礎：

每個組件表面都會有一些紋理形狀因結構和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預測組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數對表面特征進行量化。
表面紋理參數可分為三個基本類型:
振幅參數-測量表面偏差的垂直特征
間距參數-測量表面偏差的水平特征
混合參數-間距參數和振幅參數的組合
樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|，它的長度足以容納進行可靠的統計所需的數據量。對于粗糙度和波紋度分析，樣本長度等于選擇的截止長度。
截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數學方法移除或減少不必要的數據以查看重點區域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。
測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個或多個樣本長度。對于原始輪廓，測定長度等于樣本長度。
標準一適用時，泰勒●霍普森設備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標準所規定的程序。

測量原理：

通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅動裝置，確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉化為電子信號。電子信號將進行數字化處理并發送到微處理器，然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數。