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線掃描膜厚儀離線型

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      大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價·檢查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎, 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例, 為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源·照明 相關方面,對研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。

  在中國的蘇州有設立售后服務點,為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。

  我公司的母公司日本大塚電子集團,隸屬于大冢集團, 一直以來都謹守大冢集團 的企業理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創造革新的產品),不斷的推出創新產品,面向開展業務,為社會作出貢獻。

 

zeta電位?粒徑?分子量測量系統,晶圓在線測厚系統,線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學材料檢測設備,非接觸光學膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統,量子效率測量系統

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣

線掃描膜厚儀離線型

產品信息

特點

·全面·高速·高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

·硬件·軟件均為創新設計

·作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援

·實現高精度測量

·實現高速測量(500萬點以上/分)

式樣

測量位置膜厚(FFT)
位置分解能1mm以下
測量尺寸大250mm寬×無限長度限制
波長范圍400~920nm
各單元的波長范圍約0.6nm
膜厚測量范圍2~250μm
測量間隔100msec~
裝置尺寸W600×D680×H1250mm

 

測量例

250mm寬的薄膜案例

 

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