牛津儀器CMI900熒光X射線鍍層測厚儀技術參數

主要規格        
X射線激發系統：垂直上照式X射線光學系統
        空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
        標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
        功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
                75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
        裝備有安全防射線光閘
        二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選

準直器程控交換系統：多可同時裝配6種規格的準直器
          多種規格尺寸準直器任選：
                    －圓形，如4、6、8、12、20 mil等
                    －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸：在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078 x0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
       在12.7mm聚焦距離時，大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42mm(使用0.3mm準直器)

樣品室

－樣品室結構：開槽式樣品室
－大樣品臺尺寸：610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍：標準：152.4 x 177.8mm
              還有5種規格任選
－Z軸程控移動高度：43.18mm
－XYZ三軸控制方式：多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制  
－樣品觀察系統：高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。（50倍和100倍觀察系統任選。）
               激光自動對焦功能
                可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置：IBM計算機
                 惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機
分析應用軟件        
操作系統：WindowsXP(OEM)中文平臺
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍：可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能：采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
                可同時測定5層/15種元素/共存元素校正貴金屬檢測，
                如Au karat評價
                材料和合金元素分析，
                材料鑒別和分類檢測
                液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
                多達4個樣品的光譜同時顯示和比教
                元素光譜定性分析
－調整和校正功能：系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
－測量自動化功能：鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式
                  測量位置預覽功能
                  激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能：定測量點、連續多點測量、位置預覽
－統計計算功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、大值、小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖，數據庫存儲功能

任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統安全監測功能：Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器

牛津儀器CMI900熒光X射線鍍層測厚儀特點
●精度高、穩定性好

●強大的數據統計、處理功能

●測量范圍寬

●NIST認證的標準片

●服務及支持