大塚電子納米粒度·zeta電位儀可測量低濃度溶液～高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量。

粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，小容量是130μL～的一次性樣品池。另外在0～90℃的大的溫度范圍內，測量自動溫度的梯度空間，分析變性、相轉移溫度。

產品特點：

• 使用了新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間
• 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出變性、相轉移溫度
• 可測量0～90℃大范圍內的溫度
• 追加了大范圍的分子量測量及解析功能
• 懸濁類高濃度樣品的粒徑、ZETA電位的測量
• 實測cell內的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結果
• 高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
• 小面積樣品的平板ZETA電位測量

zeta電位測量原理：電泳光散射法（Laser Doppler法）

      對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。藉由此電泳速度可以求得zeta 電位·電泳移動度。

       電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據散射光的Doppler位移量求得電泳速度。因此也被稱為Laser Doppler法。

納米粒度·zeta電位儀適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫學領域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。

1)新功能性材料領域

燃料電池相關（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）
生物納米相關（納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等

2)陶瓷、色材工業領域

陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等）
無極膠體溶液的表面改質、分散、凝集控制
顏料（炭黑、有機顏料）的分散、凝集控制
懸濁狀樣品

3)半導體領域

查明附著在硅體晶圓的異物的結構
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液

4)高分子、化學工業領域

Emulsion（塗料、膠水）的分散、凝集控制、乳膠的表面改質（醫藥 用、工業 用）
高分子電解質（聚乙烯磺酸鹽、聚碳酸等）功能性的研究、功能性納米粒子
紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

5)醫藥 品、食品工業 領域

Emulsion（食品、香料、醫療、化妝品）的分散、凝集控制、蛋白質的功能性
脂質體、囊泡的分散、凝集控制、界面活性剤（膠粒）的功能性

設備參數：

測量范例：

印表機墨水zeta電位測量

使用平板樣品容器的測量范例

微量可拋式樣品容器的測量范例
 

隱形眼鏡平板電位解析

毛發樣品zeta電位解析

選配附件：

pH滴定儀系統（ELSZ-PT）

• 平板樣品容器
•zeta電位用中、高濃度樣品容器•zeta電位用低介電常數樣品容器
•zeta電位用微量可拋式樣品容器