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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備>制樣/消解設(shè)備>電子束刻蝕系統(tǒng)> Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng)

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Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng)

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北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司成立于2003年,是一家材料分析數(shù)字化解決方案服務(wù)商。旗下?lián)碛锌茖W(xué)儀器、智慧實(shí)驗(yàn)室、第三方檢測(cè)、技術(shù)服務(wù)等業(yè)務(wù)板塊。歐波同堅(jiān)持“讓實(shí)驗(yàn)更簡(jiǎn)單”的發(fā)展主線,充分掌握計(jì)算機(jī)視覺(jué)和圖像識(shí)別技術(shù),實(shí)現(xiàn)AI技術(shù)和工業(yè)分析技術(shù)的跨界融合,幫助中國(guó)企業(yè)在競(jìng)爭(zhēng)中取得成功。為世界材料分析貢獻(xiàn)中國(guó)力量!


北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司(OPTON)-主營(yíng)進(jìn)口掃描電子顯微鏡、雙束聚焦離子束顯微鏡、賽默飛掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、聚焦離子束電鏡、賽默飛雙束電鏡、FEI掃描電鏡、FIB掃描電鏡、FIB雙束電鏡、TEM透射電鏡、球差電鏡、氬離子拋光測(cè)試及制樣設(shè)備中國(guó)區(qū)授權(quán)代理商








電鏡,SEM,掃描電鏡,F(xiàn)IB雙束電鏡,環(huán)境掃描電鏡,TEM透射電鏡,掃描電鏡附件,離子濺射儀

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè)

Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng)

品牌: GATAN 

名稱(chēng)型號(hào):Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng)

制造商: GATAN公司

經(jīng)銷(xiāo)商:歐波同有限公司

 

        產(chǎn)品綜合介紹:

 

        產(chǎn)品功能介紹

        EBIC分析系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)軟件控制全自動(dòng)采集電子束感生電流(EBIC)信號(hào),獲得EBIC圖像信息,還可以獲得IV曲線信息,終可以測(cè)試PN結(jié)位置,寬度,少子擴(kuò)散長(zhǎng)度,材料或器件的失效點(diǎn)定位,廣泛應(yīng)用于電子半導(dǎo)體領(lǐng)域。

        品牌介紹

        美國(guó)GATAN公司成立于1964年并于70年代末進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)。GATAN公司以其產(chǎn)品的高性能及技術(shù)的先進(jìn)性在電鏡界享有*聲譽(yù)。

        作為設(shè)計(jì)和制造用于增強(qiáng)和拓展電子顯微鏡功能的附件廠商,其產(chǎn)品涵蓋了從樣品制備到成像、分析等所有步驟的需求。產(chǎn)品應(yīng)用范圍包括材料科學(xué)、生命科學(xué)、地球物理學(xué)、電子學(xué),能源科學(xué)等領(lǐng)域, 客戶范圍涵蓋的科研院所,高校,各類(lèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)及大型工業(yè)企業(yè)實(shí)驗(yàn)室,并且在科學(xué)研究領(lǐng)域得到了廣泛認(rèn)同。

        經(jīng)銷(xiāo)商介紹

        歐波同有限公司是微納米技術(shù)服務(wù)供應(yīng)商,是一家以外資企業(yè)作為投資背景的高新技術(shù)qi業(yè),總部位于香港,分別在北京、上海、遼寧、山東等地設(shè)有分公司和辦事處。作為電子顯微鏡、GATAN掃描電子顯微鏡制樣設(shè)備及附屬分析設(shè)備在中國(guó)地區(qū)重要的戰(zhàn)略合作伙伴,公司秉承“打造國(guó)內(nèi)影響力的儀器銷(xiāo)售品牌”的經(jīng)營(yíng)理念,與,GATAN品牌強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合,正在為數(shù)以萬(wàn)計(jì)的中國(guó)用戶提供高品質(zhì)的產(chǎn)品與技術(shù)服務(wù)。

        產(chǎn)品系統(tǒng)特點(diǎn):

        高性能、地噪聲EBIC系統(tǒng),進(jìn)行定量EBIC測(cè)量。界面友好的智能分析軟件運(yùn)行于DigitalMicrograph軟件平臺(tái)。

        用于SEM的SmartEBIC 系統(tǒng)包括:

        •計(jì)算機(jī)控制的、充電電池供電的EBIC放大器

        •高級(jí)EBIC樣品座(ASH),并配有可調(diào)節(jié)的鎢探針以進(jìn)行臺(tái)式接觸。配以適當(dāng)?shù)腉atan適配器還可以通過(guò)空氣鎖來(lái)裝載試樣*

        • 與SEM樣品臺(tái)接口

        •鏈接插座及4個(gè)BNC型的電纜鏈接,低噪聲這空饋通,適于EBIC和電子束流的測(cè)量

        •具有Fireware技術(shù)的DigiScan II數(shù)字電子束控制系統(tǒng)。它包括兩個(gè)模擬輸入,可同時(shí)采集攝影質(zhì)量的圖像,并可靈活控制像素強(qiáng)度、每點(diǎn)駐留時(shí)間、掃描旋轉(zhuǎn)等。對(duì)于某些SEM,它還可以通過(guò)軟件通訊SEM的操作參數(shù)。

        •配有先進(jìn)的SmartEBIC應(yīng)用插件的Digital Micrography軟件,以進(jìn)行定量測(cè)量、線性輪廓的實(shí)時(shí)和后處理分析

 

        產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù):

 

        SmartEBIC可以對(duì)EBIC信號(hào)進(jìn)行自動(dòng)控制采集和定量分析:

 

        掃描控制系統(tǒng):

  1、1-, 2- or 4-比特?cái)?shù)據(jù)采集提供了超大的動(dòng)態(tài)范圍

  2、從 16 x 1 至 8000 x 8000 像素掃描分辨率

  3、電子束停留時(shí)間,在0.5毫秒/像素到300毫秒/像素之間可調(diào)

  4、自動(dòng)調(diào)節(jié)圖像顯示大小,使得EBIC實(shí)驗(yàn)過(guò)程變得更方便

*5、配置Digi-Scan控制器,實(shí)時(shí)軟件控制全自動(dòng)采集,可以在EBIC信號(hào)的采集時(shí)就對(duì)信號(hào)進(jìn)行定量分析,無(wú)需附加的后處理,

*6、不僅獲得EBIC圖像信息,還可以獲得IV曲線信息。

        噪音控制:

 

  1. 特別設(shè)計(jì)的EBIC附屬樣品臺(tái)

  2. 同軸繞線方式

  3. 可重復(fù)使用的鉛酸電池 (15小時(shí)續(xù)航時(shí)間)

  4. 可以改變放大器的增益,從而*化數(shù)據(jù)采集的信噪比和帶寬

  5. 兩種可選的一階RC濾波器 ,低通或高通濾波

  6. 低漂移放大模式

  7. 在與PC通訊的時(shí)間以外,系統(tǒng)的微處理器會(huì)自動(dòng)切換到睡眠狀態(tài)

  8. 豐富的圖像處理工具。包含銳化工具、平滑工具和傅立葉變換工具等。  

  9. 可以適配與Lock-in技術(shù)(本系統(tǒng)并不提供,這樣的配置系統(tǒng)將不會(huì)對(duì)EBIC信號(hào)定量分析)

        追蹤:

        通過(guò)軟件實(shí)現(xiàn)。在12bit(1.22mV)采集分辨率模時(shí)為+/-5V。

        自動(dòng)化:

        即使在放大器參數(shù)設(shè)定欠佳的條件下,系統(tǒng)也能自動(dòng)優(yōu)化圖像的顯示大小,從而提供更方便的圖像瀏覽

        可以對(duì)放大器的偏移/增益進(jìn)行自動(dòng)設(shè)置

        軟件:

        流程式一維擴(kuò)散長(zhǎng)度測(cè)量

        廣泛的面掃/線掃描分析工具,包括數(shù)學(xué)分析工具,濾波應(yīng)用等

        廣泛的圖像顯示方案選項(xiàng),包括二次電子圖像與EBIC圖像的疊加

        編程語(yǔ)言可助您為自己的實(shí)驗(yàn)編寫(xiě)定制化軟件

 

        產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域:

 

        測(cè)試PN結(jié)位置,寬度,少子擴(kuò)散長(zhǎng)度金屬材料

        材料或器件的失效點(diǎn)定位

        測(cè)試半導(dǎo)體材料的位錯(cuò)密度

        IV特性測(cè)試

        應(yīng)用實(shí)例:

        應(yīng)用一:測(cè)試PN結(jié)位置,寬度,少子擴(kuò)散長(zhǎng)度
        應(yīng)用二:材料或器件的失效點(diǎn)定位



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