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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>無損檢測>工業CT>v|tome|x 微焦點工業CT CT檢測 CT檢測服務 工業CT

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v|tome|x 微焦點工業CT CT檢測 CT檢測服務 工業CT

具體成交價以合同協議為準

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艾因蒂克科技(上海)有限公司于2013年在上海成立, 是一家具有科技創新基因的 “國家高新技術企業”、“科技小巨人”、“專精特新”企業,主要業務涉及超聲無損檢測儀器,超聲陣列探頭,醫療超聲傳感器、超聲掃查器以及智能檢測系統。公司在上海總部設立研發中心和實驗室、廣州科學城設立儀器研發中心、長沙設立傳感器研發中心和生產基地。

公司創始人員被聘為“全國無損檢測標準化技術委員會委員”、“全國鋼標準化委員會無損檢測分會委員”、“全國焊接標準化委員會分技術委員會委員”、“中國無損檢測學會超聲專業委員會委員”、“中國金屬學會無損檢測分會委員”、“上海市科委專家庫成員”、“南昌航空大學客座教授”、“杭州電子科技大學兼職教授”等。


艾因蒂克超聲波相控陣探傷儀Phaseye,艾因蒂克品牌相控陣系統集成板卡Phaselink,艾因蒂克醫療超聲探頭,曼圖電子超聲相控陣探頭,艾因蒂克編碼器及掃查裝置,艾因蒂克超聲波仿真軟件系統,奈克斯特汽車點焊檢測儀,NEXTNDT超聲波點焊分析儀,超聲波點焊耦合劑

產地類別 進口 價格區間 200萬-500萬
應用領域 能源,電子,航天,汽車,電氣

微焦點工業CT CT檢測 CT檢測服務 工業CT

 

隨著制造業日益復雜,微焦點工業CT CT檢測 CT檢測服務 工業CT自動化成為標準,兼顧精度和效率的檢測呈現的比以往任何時候都更加重要。GE專注于變革無損檢測領域中的3D檢測和尺寸控制,致力于實現準確、高效的檢測目標。

通過將工業CT技術應用于滿足工業需求,并將其與強大的X射線技術、自動化機械手、全自動軟件和GE  CT技術相結合,我們已經研發出一系列高精度CT產品,在保證質量的檢測下,檢測時間由幾個小時縮短到幾分鐘。

全新phoenix v|tome|x m 將這項變革向前推進了一大步,可以為你提供通用、精確的微焦點CT系統,用于無損檢測、3D尺寸測量和分析。這種高生產率的系統,可以在高速的檢測速度下,獲得更高的精度,極大優化你的實驗、測試過程,滿足現如今日益增長的需求。

 

相同圖像質量下,有效節約掃描時間

v|tome|x m是*可以搭載GE突破性的散射線校正技術、dynam ic41數字化探測器 和高通量鎢靶的微焦點工業CT系統,使得掃描速度更快或圖像質量更高,并真正革新了檢測方法。

 

提供多種配置和可選項,幫助您在高度準確的前提下,提高生產率,例如ruby|plate(紅寶石標準件) 和 true|position(機械軸精準定位)可用于提高測量精度、流程化操作, helix|CT(螺旋CT)可用于提高圖像質量,簡單、高效地提高樣品檢測率。

 

1. scatter|correct 技術

有效減少散射線偽影,相比同等效果的傳統扇束速度提高近100倍。

掃描時間從60分鐘減少至6分鐘

2. dynamic 41 數字平板探測器相同速度下分辨率提高一倍,或與200μm DXR探測器相同質量下,檢測效率提高一倍。

掃描時間從6分鐘減少至3分鐘

3. high-flux|target高通量靶

提高微米CT檢測效率,或者在更小的焦點尺寸下,實現更高的功率進而獲得近乎2倍的圖像質量。

3分鐘減少至1.5分鐘

4. helix|CT 螺旋CT

采用螺旋CT提升圖像質量,在高效、易操作的前提下,提高檢測概率。

5. offset|CT 偏置CT

在原有基礎上,增加100%的檢測范圍。

6. 全自動機器人

很大程度地提高檢測速度和準確性,極大節約運行成本。

7. phoenix datos|x CT軟件

圖像采集、數據處理、樣品評估全自動化進行。

 

 

微焦點工業CT主要參數

 

phoenix v|tome|x s phoenix v|tome|x m

射線管類型

開放式設計,反射式高功率微焦點X射線源,配置封閉式水冷系統。

選配投射式高功率納米焦點射線源(開放式設計)

大電壓 / 功率

240 kV/ 320 W

300 kV/ 500 W.

240 kV/ 320 W (選配)

選配納米CT的雙源設計®: 180 kV / 20 W 配置鉆石靶的高功率納米焦點射線源 | 高精度氣浮轉臺| 雙源一鍵式切換系統

幾何放大倍率 (3D)

1.46 倍至100 倍; 選配納米射線源后增大至200 倍

1.3 倍至100 倍; 選配納米射線源后增大至200 倍

細節檢測能力

< 1 μm (微米焦點射線源); 0.2 μm (選配納米焦點射線源)

小體素尺寸

2 μm(微焦點)

2 μm (微焦點), 1 μm(選配dyn. 41|100)

<1 μm(選配納米焦點射線源)

<0.5 μm (納米射線源 + dyn. 41|100)

測量精度

參考VDI 2630聲明精度

4+L/100μm參考VDI 2630-1.3

探測器類型

(依據ASTM E2597 標

準)

溫度穩定型GE DXR平板探測器, 200 μm像素尺寸, 1,000 x 1,000 像素數量, 200 x 200 mm (8”), 支持2倍虛擬放大

溫度穩定型GE dynamic 41|200平板探測器, 410 x 410 mm (16” x 16”), 200 μm像素尺寸, 2036 x 2036

像素數量 (4 MP), 高動態范圍 > 10000:1

選配 400 x 400 mm (16”) , 4 MPixel DXR 探測器

(無2倍虛擬放大)

選配GE dynamic 41|100 探測器, 410 x 410 mm (16” x 16”), 100 μm 像素尺寸, 4048 x 4048 像素數量

(16 MP),分辨率提高2倍

機械系統

5軸高精度機械系統,

*設計優化穩定性

大理石基座的4軸機械系統

焦距

800 mm (8”探測器) | 930 mm (16” 探測器)

800 mm

大樣品直徑 x 高度

大3D掃描尺寸 260 mm Ø x 420 mm, 大

400 mm Ø 選配offset|CT和 8” 探測器

360 mm x 600 mm; 限制移動范圍500 x 600 mm ,

大3D 掃描范圍 420 mm Ø x 400 mm

大樣品重量

10 kg (22 lbs.)

50 kg (110 lbs.), 高精度CT:20 kg (44 lbs.)

大物距

545 mm(微焦點)

600 mm (微焦點)

系統尺寸 W x H x D

2,170 mm x 1,690 mm x 1,500 mm (85.4” x 66.5” 59” )

2,620 mm x 2,060 mm x 1,570 mm (103” x 81” x

62”); D 2,980 mm (117.3”)包含控制面板和發生器

系統重量

約2,900 kg /6,400 lbs. (不含附件)

約7,960 kg /17,550 lbs. (不含附件)

溫度穩定性

射線源冷卻系統| 溫度穩定型探測器

射線源冷卻系統|溫度穩定型探測器|溫度穩定型鉛

選配scatter|correct 硬件及軟件模塊 (可升級)

 

小化散射線偽影,達到線陣列同等水平圖像質量;大掃描直徑: 260 mm, 幾何放大倍率1,51

倍 - 100倍

選配高通量靶

檢測效率提高2倍或檢測效果提高2倍; 射線源功率為100 W

選配2D 檢測模塊

配置傾斜軸,檢測樣品重量10 kg (22 lbs.) | 2D 檢測軟件+ datos|x CT軟件

選配測量版本 (可升級)

 

2 標準件

可選多標準件

 

 

選配螺旋CT & 擴展CT

采用高級掃描模式,提升掃描范圍和圖像質量,螺旋CT:用于長樣品掃描,并有效減少偽影;擴展CT:可   以掃描更大尺寸的樣品,或者獲得更高的分辨率

選配 click&measure|CT

用于全自動數據處理

已包含

選配 production|edition

 

根據需求配置全自動機器人

軟件

phoenix datos|x 3D圖像采集和數據重建軟件,擁有不同的3D軟件包,用于尺寸測量、失效分析和結構檢

測。

輻射安全防護

全封閉式自屏蔽防護鉛房,類型滿足德國RöV,適用于法國NFC 74 100 和美國21 CFR ,當地法規要求的其他許可。



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