Avio™ 200 系統能處理未經稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來新的性能及靈活性。 而硬件特性與直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。 

Avio 200 可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數據和低的擁有成本：

        l   ICP 中低的氬氣消耗

        l   快的 ICP 啟動（從關機狀態啟動，光譜儀在短短幾分鐘內即可準備就緒）

        l   對所有適用的元素都具有靈敏度與分辨率

        l   具有雙向觀測技術的寬線性范圍

雙向觀測功能

Avio 200 系統獲得的雙向觀測功能。即使是波長大于 500 納米或低于 200 納米的元素也*可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍。

可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 200 系統的 PlasmaCam™技術，便利遠程監控等離子體。

 PlasmaShear 系統，可實現無氬干擾消除

為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。 

常規ICP消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統或錐體。就是一個集成的、自動化的、能提供軸向分析的干擾消除系統。