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Detla 白光干涉測厚儀

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廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月,是國家高業,廣州科技小巨人企業,并在廣東股權交易中心成功掛牌(股權代碼:892081),通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產權貫標認定體系,擁有近20項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域,自主研發儀器有光學接觸角測量儀,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系,并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發生產的產品定位在國內高水平,未來面向市場。

前臺.jpg

貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學尊重以嚴謹的科學理論為指導,為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學家提供專業的服務。

 

我們的宗旨是為科學學提供更專業,更貼心的服務。

我們的優勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務,其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。

材料分析領域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學)、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

 

 

接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

產地類別 國產 價格區間 面議
應用領域 化工,生物產業,電子,印刷包裝,紡織皮革

白光干涉測厚儀介紹  

白光干涉儀利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。


白光干涉測厚儀特點

快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

應用案例

應用領域

半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等)

觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)


技術參數

型號

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

波長范圍

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范圍

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

準確度1

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

樣品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

測量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸2

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在線

掃描選擇

XY可選

XY可選

XY可選

XY可選

注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

      2.可選微光斑附件。



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