便攜式礦石分析光譜儀是進行礦石元素分析的理想設備。

礦石元素分析儀快速準確，可對礦石表面，巖心或準備好的樣品等地球化學成分進行現場分析。通過實時多次采樣，可直接評估礦石品位，并立即獲得分析結果，這不僅大大提高了生產率和生產進度，而且增加了幾天實驗室獲得結果的時間。分析到現在幾秒鐘??。

SDD檢測器的計數率和分辨率遠高于si引腳檢測技術，分析速度快了5倍。這意味著所有元素的檢出限較低，并且可以結合FP校準模式測試所有礦石樣品。

便攜式礦石分析光譜儀還可以分析土壤，沉積物，巖心和其他樣品的化學成分。
可選的臺式固定器可確保輻射安全并測量特殊樣品（例如袋裝）以保護環境。
快速準確的礦石開發分析和內容分析
在野外作業時，隨身攜帶，非常方便

礦石元素分析儀主要特點：

分析速度快，精度高，實現了現場分析地質化學成份，如礦石表面，巖芯或已備好的樣品。通過實時多重采樣，可直接評估礦石級別，立時獲得分析結果，不僅大大提高了生產力和生產進度，而且將獲得結果的時間從實驗室分析的數天提高到現在的幾秒。

主要特性： 

簡體中文界面，同時提供18種語言備選

自校準功能，開機后無需等待即可測量

分析元素小從Mg開始，達40多種

可分析極低含量(ppm級)至高百分比含量(%)

實時分析數據和圖譜顯示

內置CCD攝像頭和小點準直器功能

測量*無損，不受樣品形狀限制

自動存儲數據和圖譜，無需人工干預

整機一體化設計，高強度密封，防水、防塵、抗沖擊

一鍵式定時測量，操作更簡便

標配防扎檢測器，堅固、耐用, 無人能比

內置Bruker專業操作軟件，計算和顯示速度快

適應高溫、低溫、潮濕、雨天、沙塵等惡劣環境

長時間不用時儀器自動待機，節電、環保

Peltier半導體恒溫制冷技術