智能數字化涂鍍層測厚儀minitest740
- 公司名稱 篤摯儀器（上海）有限公司
- 品牌 ElektroPhysik/德國EPK
- 型號
- 產地 德國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2023/11/12 18:22:57
- 訪問次數 1301
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| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
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涂鍍層測厚儀minitest740探頭內置外置可換，讓用戶使用更加靈活，涂鍍層測厚儀minitest740更換不同探頭既可測小工件，薄涂層，也可測厚涂層，zui大測量到15mm
MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀
涂鍍層測厚儀minitest740-優點：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加準確
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高準確度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件
SIDSP技術-*新技術，智能數字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發的，世界**的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。SIDSP即探頭內部數字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界**技術生產。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32位數字轉換和處理，帶給您準確的涂層厚度值。此項的數字處理技術，同時應用在現代通訊技術（手機網絡）方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和準確度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。
主機技術參數
主機型號 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 |
數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 |
存儲數據量 | *多10,000個 | *多10,000個 | *多100,000個 |
統計值 | 讀值個數、*小值、*大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置) | ||
校準程序符合際標準和規范 | ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調節補償值 | ||
限值監控 | 聲、光報警提示超過限 | ||
測量單位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃~60℃ | ||
存放溫度 | -20℃~70℃ | ||
數據接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
電源 | 2節AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內置)/230g(外置) |
探頭
探頭特性 | F1.5，N07，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信號處理 | 探頭內部32位信號處理(SIDSP) | |||||
較準確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
*小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
*小曲率半徑 | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
*小曲率半徑 | 30mm | 30mm | 30mm | |||
*小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
*小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | |||||
單值模式下*大測量速度 | 每分鐘70個讀數
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