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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學顯微鏡>工具顯微鏡/測量顯微鏡>AM4115ZTL AM4115ZTL手持式半導體測量顯微鏡

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AM4115ZTL AM4115ZTL手持式半導體測量顯微鏡

參考價 48
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


       北京福祿克斯科技有限公司是專業為用戶提供光電類較適合產品及配套服務解決方案的公司。公司組建了一支有著豐富的專業知識及10多年銷售寶貴經驗的專業銷售團隊,并且我們還吸取了日本及歐美國家一些優秀公司的*技術理念,利用堅實的專業技術知識,為客戶提供準確、可靠的產品和服務。我們的產品廣泛用于機械、電子、材料、地質礦產、石油化工、生命科學、食品制藥、農林牧漁等幾乎所有應用領域,以及汽車制造、航空航天、船舶制造、兵器制造、核工業、模具注塑、鐘表紡織、精密電子、材料研究、化工制藥、商品檢驗檢疫、刑偵鑒定、第三方實驗室、國家檢測機構、科研和教學等行業和機構。

       我們的主營產品包括:CREAFORM(形創)手持式三維立體掃描儀、NAOMI便攜式工業CT掃描儀、Dino-Lite手持式數碼顯微鏡、SNAKEYES(斯奈克斯,簡稱“蛇眼”)工業內窺鏡等。其中,Dino-Lite手持式數碼顯微鏡一直致力于在影像數字化領域不斷投入研發,為客戶提供高性能、高清晰的顯微可視化、數字化影像解決方案。目前Dino-Lite系列手持式數碼顯微鏡、Dino-Eye系列顯微目鏡及配件型號已達上百種,通過各地的經銷商網絡,產品已經覆蓋五大洲的主要市場。SNAKEYES(蛇眼)內窺鏡主要包括了直徑從0.5mm到40mm鏡頭的一些列產品,同時從轉向功能上還包括了360°電動轉向、360°手動轉向、4方向旋轉、2方向旋轉及直視不轉向的等等。

       我們將始終秉承“以人為本,誠信發展,合作共贏”的服務理念,與用戶建立*、良好的合作關系。熱烈歡迎廣大用戶前來洽談合作,共同創造和諧共贏的新未來!

數碼顯微鏡,CT掃描儀,三維立體掃描儀,工業內窺鏡

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 地礦,電子,航天,司法,汽車

AM4115ZTL手持式半導體測量顯微鏡介紹:

AM4115ZTL半導體測量顯微鏡,配備新一代130萬像素高清光學鏡頭的手持式顯微鏡,全視野高清顯微畫質顯示,可拆卸式前罩,配備多種多用途的不同光學前罩,自帶專業電腦軟件,觸摸式拍照錄像,實際距離測量及繪圖,數據導出并保存至Excel表中;具有偏光功能(適用于表面反光的物體檢測);長工作距離設計,不需要接觸物體觀察,適合半導體的檢測。

 

 

AM4115ZTL手持式半導體測量顯微鏡參數:

型號AM4115ZTL

接口類型USB 2.0

分辨率1280*1024dpi

像素1.3MP

幀數30fps

放大倍率10X-140X

鏡頭Color CMOS

微觸按鈕可通過觸摸拍照錄影

光源內置8顆白色LED

工作距離:30.5mm~234.5mm

偏光鏡

測量功能

校正功能

產品規格10.5cm (H) x 3.2cm (D)

產品重量100(g)

包裝尺寸16cm (L) x 16cm (W) x 6cm (H)

保修期一年

生產地中國臺灣

圖片存儲格式DinoCapture2.0:BMP, GIF, PNG, MNG, TIF, TGA, PCX, WBMP, JP2, JPC, JPG, PGX, RAS, PNM

DinoXcope: PNG, JPEG

視頻存儲格式DinoCapture2.0: WMV, FLV, SWF;DinoXcope: MOV

軟件功能支持拍照、攝像、定時抓拍等功能,可進行文字、圖形標記,并可輸出至Excel快速生成圖表,可提供SDK進行二次開發

測量功能介紹具有自動輔助尋邊功能,可測量長,寬,點線距離,并且包括兩點直線,連續線、多邊形、半徑圓直徑圓三點圓、三點弧、三點角度四點角度兩圓心距離、格線圓心格線十字線、十字刻度線、長度角度平均顏色換算等

操作系統Windows10、8、7、Vista、XP;Mac OS 10.10或更高版本

 

 

標準配置:

軟件光盤、軟件使用說明書、PC材質校正片(精確0.1mm)、收納袋、6個前罩

6個前罩分別是:

N3C-O開放式前罩:可在70X、175X接觸聚焦觀測                                                    

N3C-E延伸開放式前罩:可在200X接觸聚焦觀測                                                     

N3C-L長距離前罩:可在25X、45X等低倍數接觸觀測,前端可配其他前罩使用                                                                                                                               

N3C-C封閉式前罩:可進行液體觀測,可保護內部鏡頭                                            

N3C-D柔光式前罩:可減少反射光線,使用與高反光的物體                               

N3C-S黑色半前罩:增加成像立體感,適合凹凸物體觀測

 

 

AM4115ZTL半導體測量顯微鏡應用領域:

 廣泛應用于學術研究、科研機構、農林業研究 產品質量檢測和鑒定、刑事鑒定、珠寶文物鑒定修復、數碼教學、生物實驗、閱讀輔助等領域,具體包括:PCB電子制造業、光電、SMT、連接器制造、電纜、光纖、汽車工業、模具行業、液晶檢測、電鍍行業、管道裂痕檢測、印刷造紙業紡織纖維、玻璃陶瓷材料、珠寶文物鑒定、齒輪檢測、焊接切割檢查、皮革樹脂、粉塵等檢查

 

AM4115ZTL半導體測量顯微鏡相關產品:

 

AM4115T、AM4115TL、AM4115ZT、AM4115ZTL、AM4115ZTF、AM4115ZT、AM4115ZTW

 

AM4515T、AM4515T5、AM4515T8、AM4515ZT、AM4515ZT4、AM4515ZTL   

 

AM4815TAM4815ZT、AM4815ZTL

 



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