產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 1千-5千 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,建材,印刷包裝 |
EX3自動橢圓偏振測厚儀
特點(diǎn):
消光法橢偏測量原理
儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。
方便安全的樣品水平放置方式
采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。
緊湊的結(jié)構(gòu)
集成設(shè)計(jì),簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便儀器使用。
高穩(wěn)定性光源
采用半導(dǎo)體激光器作為探測光的光源,穩(wěn)定性高,噪聲低。
豐富實(shí)用的樣品測量功能
可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。
便捷的自動化操作
儀器軟件可自動完成樣品測量,并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。
安全的用戶使用權(quán)限管理
軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、操作者等模式),便于儀器管理和使用。
可擴(kuò)展的儀器功能
利用本儀器,可通過適當(dāng)擴(kuò)展,完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn),如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)、旋光等。
應(yīng)用領(lǐng)域:
EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測量,也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。
EX3可測量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。
EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)測量原理,針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比,該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源,穩(wěn)定性好,體積小。
EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。
EX3儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料(如,金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。