MProbe RT MProbe RT薄膜測厚儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海全耀儀器設備有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號 MProbe RT
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/11/21 15:42:35
- 訪問次數 282
產品標簽
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價格區間 | 面議 | 應用領域 | 醫療衛生,生物產業 |
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MProbe RT薄膜測厚儀可以快速且穩定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
MProbe RT薄膜測厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
測量范圍: 1 nm -20um(UVVis),1nm-150um(UVVisNIR)
波長范圍: 200 nm -1000 nm(UVVis)
200nm-1700nm(UVVisNIR)
適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等;