博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 L系列產品概述：

L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結合。對于大的鍍件，L系列是*品。大樣品臺和XY行程可實現大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"（LxWxH）的樣品。XY平臺的行程為13"x10"。

標準配置包括一個4位置多準直器組件，以及一個可在凹陷區域進行測量的變焦相機。 與其他型號一樣，準直器尺寸和焦距可根據不同的客戶應用進行定制。 包括可編程的XY平臺，為了滿足更大樣品測測量，XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導體探測器，可升級為高性能SDD探測器。

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 L系列

可滿足以下類型用戶的需求：

- 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"

- 需容納多個樣品進行自動化多點測量

- 可擴展到更大尺寸的樣品，用于未來的項目

- 符合IPC-4552A

博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 L系列產品參數：

關于美國博曼：

美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統也可以測量高熵合金（HEAs）。