進(jìn)口精密儀器設(shè)備（科學(xué)儀器、試驗(yàn)儀器設(shè)備、工業(yè)檢測(cè)儀器）及相關(guān)化學(xué)試劑/耗材，向高校實(shí)驗(yàn)室、科研院所、工業(yè)領(lǐng)域及其他各級(jí)實(shí)驗(yàn)室提供專業(yè)、全面的技術(shù)支持和售后服務(wù)，同時(shí)可提供相關(guān)增值服務(wù)：分析測(cè)試服務(wù)、儀器設(shè)備維修保養(yǎng)服務(wù)、儀器設(shè)備搬遷服務(wù)、實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)裝修服務(wù)、儀器設(shè)備代理進(jìn)出口服務(wù)等。
| 價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-120萬(wàn) | 儀器種類 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,地礦,交通 |
描述
ESCALAB XI配備了微聚焦單色化X射線源，旨在提供*的XPS分析性能+X射線光電子能譜儀能滿足大吞吐量樣品測(cè)試需求多技術(shù)能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設(shè)備，使該儀器在解決任何表面分析問(wèn)題時(shí)都能游刃有余。利用*的 Avantage 數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)，從測(cè)試數(shù)據(jù)中挖掘盡可能多的信息。
The ESCALAB XI+ X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) Microprobe Features:
高靈敏度能譜
小面積 XPS
深度剖析能力
角分辨 XPS
標(biāo)配離子散射能譜 (ISS)功能
標(biāo)配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
標(biāo)配“樣品預(yù)處理”室
多技術(shù)分析的多功能性
多個(gè)樣品制備技術(shù)可選
全自動(dòng)無(wú)人值守式分析
多樣品分析
單色化X射線源
雙晶體微聚焦單色器配備一個(gè) 500 mm 直徑的羅蘭圓，使用鋁陽(yáng)極靶
樣品 X 射線光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm
透鏡、分析儀和檢測(cè)器
透鏡、分析儀和檢測(cè)器構(gòu)成XPS檢測(cè)系統(tǒng)+XPS光譜儀在成像和微區(qū)方面的分析能力都是獨(dú)yi無(wú)二的
兩種類型的檢測(cè)器可以確保為每種分析提供zuijia檢測(cè)——用于成像的二維檢測(cè)器和適用于高計(jì)數(shù)率檢測(cè)的電子倍增器
透鏡配備了兩個(gè)電腦控制的虹膜機(jī)構(gòu) - 一個(gè)允許用戶將透鏡的視野控制在<20μm以下進(jìn)行微區(qū)分析，另一個(gè)控制透鏡的接收角度，以便獲得高質(zhì)量角度分辨數(shù)據(jù)
180° 半球型能量分析器
深度剖析
數(shù)控式 EX06 離子槍是一款高性能的離子源，哪怕在使用低能離子源時(shí)也有著很好的性能
提供方位角樣品旋轉(zhuǎn)
多技術(shù)能力
可配備其他分析技術(shù)而不降低 XPS 檢測(cè)性能
使用 EX06 離子槍時(shí)透鏡組和能量分析儀的電源可反向（確保離子散射能譜 (ISS) 可用）
電子槍可加壓升至 1000 V，為 REELS 提供優(yōu)異的離子源
技術(shù)選項(xiàng)
非單色化 X 射線光源的XPS分析
AES（俄歇電子能譜）
UPS（紫外光電子能譜）
真空系統(tǒng)
5 mm 厚高導(dǎo)磁?金屬分析室，zui大程度提高磁屏蔽效率
與使用內(nèi)部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳
樣品制備
系統(tǒng)標(biāo)配一體化的快速進(jìn)樣室和制備室
額外的制備室可選
Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)
集成了測(cè)試分析的所有方面，包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生成
允許遠(yuǎn)程控制，并且可輕松與第三方軟件交互（例如 Microsoft Word）
管理從樣品載入到報(bào)告導(dǎo)出的整個(gè)分析過(guò)程
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