蔡司工業(yè)ct METROTOM 光學(xué)斷層掃描儀采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，在不損傷被測(cè)物體的情況下，以二維斷層攝影圖像或三維立體圖像的形式清晰、準(zhǔn)確、直觀地顯示被測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、成分、材料和缺陷狀態(tài)，小可檢測(cè)缺陷為4.5微米。

1917年，奧地利數(shù)學(xué)家雷登(J. Radon)提出可通過(guò)從各方向的投影，并用數(shù)學(xué)方法計(jì)算出一幅二維或三維的重建圖像的理論。后來(lái)，考邁克于1967年完成了CT圖像重建相關(guān)的數(shù)學(xué)問(wèn)題。亨斯菲爾德在英國(guó)EMI實(shí)驗(yàn)中心進(jìn)行了相關(guān)的計(jì)算機(jī)和重建技術(shù)的研究，重建出圖像。1971年誕生了*臺(tái)CT裝置。

　　CT是用X射線束對(duì)一定厚度的層面進(jìn)行掃描，由探測(cè)器接受透過(guò)該層面的X射線，轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢?jiàn)光后，由光電轉(zhuǎn)換變?yōu)殡娦盘?hào)，再經(jīng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)為數(shù)字，輸入計(jì)算機(jī)處理。對(duì)于材料學(xué)領(lǐng)域，CT的成像原理是根據(jù)待測(cè)樣品內(nèi)部不同相和成分的密度以及原子系數(shù)的不同，對(duì)X射線的吸收能力有強(qiáng)有弱從而造成成像的明暗差別，進(jìn)行不同組分的分析。CT機(jī)結(jié)構(gòu)包括X射線發(fā)生部分(高壓發(fā)生器、X線管、冷卻系統(tǒng)、準(zhǔn)直器和楔形濾過(guò)器/板)、X線檢測(cè)部分(探測(cè)器，模數(shù)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器)、機(jī)械運(yùn)動(dòng)部分(掃描機(jī)架、滑環(huán))、計(jì)算機(jī)部分(主機(jī)及陣列處理器)及圖像顯示和存儲(chǔ)部分(監(jiān)視器、存儲(chǔ)器)、工作站等。

常熟蔡司工業(yè)CT用一次掃描替換多次檢查
3D斷層攝影的一個(gè)重要優(yōu)勢(shì)是它能夠取代多次復(fù)雜的單獨(dú)檢查。只需一次掃描

就可以檢查尺寸變化、不連續(xù)性、夾雜物和各種變形。幾秒鐘的循環(huán)時(shí)間是可

能的。還有一個(gè)額外的好處:結(jié)果會(huì)被蔡司VoluMax自動(dòng)記錄下來(lái)

常熟蔡司工業(yè)CT蔡司ct斷層掃描儀檢測(cè)系統(tǒng)價(jià)格蔡司電腦軟件:從數(shù)據(jù)生成到過(guò)程監(jiān)控
有了蔡司軟件，您可以高效地使用蔡司VoluMax，大限度地利用潛力。用戶界

面(ZEISS METROTOM操作系統(tǒng))已被簡(jiǎn)化，因此經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的生產(chǎn)工人可以輕松、

安全地操作電腦系統(tǒng)。蔡司卡呂普索和蔡司計(jì)算機(jī)斷層顯像軟件可用于計(jì)算機(jī)

斷層數(shù)據(jù)的計(jì)量評(píng)估。可以使用ZEISS PiWeb質(zhì)量數(shù)據(jù)系統(tǒng)進(jìn)一步處理結(jié)果。

常熟蔡司工業(yè)CT：被測(cè)零件在放到工作臺(tái)上檢測(cè)之前,應(yīng)先清洗去毛刺,防止在加工完成后零件表面殘留的冷卻液及加工殘留物影響測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度及測(cè)尖使用壽命。

蔡司工業(yè)ct METROTOM 光學(xué)斷層掃描儀CT掃描即三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)(簡(jiǎn)稱CT)，將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn)，通過(guò)單一軸面的射線穿透被測(cè)物體，根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同，收集每個(gè)角度的穿透圖像，之后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出待測(cè)物體的實(shí)體圖像。