| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子 |
|---|
1. 環境控制功能（大氣，真空，液體，溫控等）
AFM5300E能夠實現高真空的測試環境，大限度減小樣品表面吸附水對測試的影響，實現精確的物理特性測量。 真空環境下可以實現更大范圍的溫度控制。另外，新開發的『溫度掃描功能』可監視樣品Z方向的熱脹冷縮，通過控制反饋信號，使懸臂在變溫環境下連續測試樣品表面的物理特性。
（zhuanli3857581號、zhuanli3926638號）
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制 加熱？冷卻(-120～300℃) 高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
●外加磁場（水平、垂直、面內旋轉、max5000 Oe ）（使用選配項）
2. 簡便操作（綜合型Holder Flange）
通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調整。 也省去測試模式切換時的支架更換環節。
3. 的高性能
采用了『Swing Cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/sec以下
4. 通過減輕表面吸附水的影響，提高了電氣性能的檢測精度
真空環境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響，因而實現高分辨高靈敏的電學性能分析。
原子力顯微鏡環境型 AFM5300E規格
| 分辨率 | 原子相 |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴展至20 mm) |
| 樣品移動范圍 | X-Y stage 5 mm |
| 掃描范圍 | 標準： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環差控制） 定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍） |
| 檢測功能 |
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| 選配件 | 高溫加熱樣品臺 加熱冷卻兼用樣品臺 冷卻真空 溫度控制 |
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