分析掃描電子顯微鏡 SU-70是一種新概念掃描電子顯微鏡，它采用了日立經過實地驗證的 "semi-in-lens"超高分辨率技術以及肖特基熱場發射電子槍技術。除了具有超高分辨率（1.0 nm/15 kV，1.6 nm*/1 kV）的特點外，它還借助聲名遠播的SuperExB功能可觀察減輕荷電圖像，成分構成對比圖像，超低加速電壓圖像*。肖特基場發射電子槍的探針電流為100 nA，可進行各種各樣的分析操作（X 射線能譜儀*, X射線波譜儀*,電子背散射衍射系統*等）

日立掃描電鏡SEM, 在同一臺儀器上進行綜合分析(需要大探針電流)和超高分辨率觀察，分析掃描電子顯微鏡 SU-70核心參數：

• 型號SU-70
• 產地日本
• 樣本 暫無
• 品牌日立

• 二次電子圖象分辨率1.0nm@15kV,1.6nm@1kV,2.5nm@1kV
• 加速電壓0.5~30kV
• 放大倍數25~800,000
• 儀器種類 場發射

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