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ML3 Durham Microwriter ML3 無掩膜光刻機

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藍星宇科技專業研發設計組裝:紫外臭氧清洗機(UV清洗機),準分子清洗機,等離子清洗機等儀器設備。引進日本,德國,韓國*技術,設備已獲得眾多院校,研究所,高科技企業等客戶*認可。

  同時我們專注進口科學儀器設備及材料,主要代理有國 Heidelberg 海德堡光刻機,美國 OAI 光刻機,德國 Raith 電子束光刻機,英國 Durtham 無掩膜光刻機,美國 Trion 刻蝕機.沉積機,德國 Sentech 刻蝕機.沉積機,德國 Optosol 吸收率發射率檢測儀,日本 SEN  UV清洗機.UV清洗燈,美國Jelight UV清洗機,美國 Nano-master 晶圓清洗機,美國 Arradiance 原子層沉積機,德國 WL 微波離子沉積機德國 Iplas 微波離子沉積機美國量子科學 Quantum 綜合物性測量系統,德國 Diener 等離子清洗機等*技術產品并可依據客戶需求,研發定制相關儀器及材料。

光刻機,鍍膜沉積機,刻蝕機,UV清洗機,實驗檢測儀器,UV燈

產地類別 進口 應用領域 電子

Durham Microwriter ML3 無掩膜光刻機
 

詳細介紹

小型臺式無掩膜光刻系統

 

    小型臺式無掩膜光刻系統是英國Durham Magneto Optics公司專為實驗室設計開發,為微流控、SAW、半導體、自旋電子學等研究領域提供方便高效的微加工方案。

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    傳統的光刻工藝中所使用的鉻玻璃掩膜板需要由專業供應商提供,但是在研發環境中,掩膜板的設計通常需要經常改變。無掩膜光刻技術通過以軟件設計電子掩膜板 的方法,克服了這一問題。與通過物理掩膜板進行光照的傳統工藝不同,激光直寫是通過電腦控制一系列激光脈沖的開關,在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。

    Microwriter ML 3 是一款多功能激光直寫光刻系統,具有結構小巧緊湊(70cm X 70cm X 70cm),無掩膜直寫系統的靈活性,還擁有高直寫速度,高分辨率的特點。采用集成化設計,全自動控制,可靠性高,操作簡便。適用于各種實驗室桌面。

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產品特點  

Focus Lock自動對焦功能 

Focus lock技術是利用自動對焦功能對樣品表面高度進行探測,并通過Z向調整和補償,以保證曝光分辨率。

光學輪廓儀 

Microwriter ML3 配備光學輪廓探測工具,用于勻膠后沉積層,蝕刻層,MEMS等前道結構的形貌探測與套刻。Z向高精度100 nm,方便快捷。

 

標記物自動識別

點擊“Bulls-Eye”按鈕,系統自動在顯微鏡圖像中識別光刻標記。標記物被識別后,將自動將其移動到顯微鏡中心位置。

別直寫前預檢查

軟件可以實時顯微觀測基體表面,并顯示預直寫圖形位置。通過實時調整位置、角度,直到設計圖形按要求與已有結構重合,保證直寫準確。

簡單的直寫軟件

MicroWriter 一個簡單直觀的Windows界面軟件控制。工具欄會引導使用者進行簡單的布局設計、基片對準和曝光的基本操作。該軟件在Windows10系統下運行

 

Clewin 掩模圖形設計軟件 

可以讀取多種圖形設計文件(DXF, CIF, GDSII, 等

可以直接讀取TIFF, BMP 圖片格式

書寫范圍只由基片尺寸決定

 

 

產品參數
 
Microwriter ML3基本型增強型旗艦型
 大樣品尺寸155×155×7mm155×155×7mm230×230×15mm
 大直寫面積149mm x 149mm149mm x 149mm195mm x 195mm
 曝光光源405 nm LED 1.5W405 nm LED 1.5W385 nm LED 適用于SU-8 
(365+405nm雙光源可選)
 直寫分辨率1μm1μm and 5 μm0.6μm, 1μm, 2μm, 5μm
 直寫速度20mm2/min @ 1μm20mm2/min @ 1μm
120mm2/min @ 5μm
25mm2/min @ 0.6μm
50mm2/min @ 1μm
100mm2/min @ 2μm
180mm2/min @ 5μm
 對準顯微鏡鏡頭x10x3 and x10 自動切換x3, x5, x10, x20 自動切換
 多層套刻精度±1μm±1μm±0.5μm
 小柵格精度200nm200nm100nm
 樣品臺小步長100nm100nm50nm
 光學輪廓Z分辨率無(可升級)300nm100nm
 樣品表面自動對焦
 灰度直寫(255級)
 自動晶片檢查工具無(可升級)
 溫控樣品腔室無 (可升級)無 (可升級)
 虛擬模板校準工具無(可升級)無(可升級)
 氣動減震光學平臺無(可升級)無(可升級)
 
應用案例 

直寫分辨率1μm

  

直寫分辨率0.6μm

 

 微電極制備

       光刻膠上的圖形                                 Au電極(SEM)                                   Au電極(SEM) 

       

       設計圖                                                 光刻膠上的圖形                                        放大圖的顯微結構
       

 

微結構制備

   

 

    

 

微流通道制備

   

 
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