GAIA3掃描電鏡 GAIA3掃描電鏡
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 TESCAN泰思肯貿易(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 GAIA3掃描電鏡
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/6/13 11:26:17
- 訪問次數 605
產品標簽
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價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場發射 |
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應用領域 | 環保 |
GAIA3掃描電鏡是一款可以挑戰納米設計應用的理想平臺,它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質量超薄 TEM 樣品制備、在技術節點減少流程、精確的納米構圖或高分辨率的三維重構。這些特征使得 GAIA3 成為低能電子束成像應用的理想工具,保留易受電子束損壞的樣品的精細結構,如低介電常數材料、光阻材料及未涂覆生物樣品。在樣品改性方面,GAIA3 也代表了挑戰納米加工的適合解決方案。
GAIA3掃描電鏡
突出特點
Triglav™ - 新型超高分辨率 ( UHR ) 電子光學鏡筒
- TriLens™ 物鏡系統:*的電子束無交叉模式與超高分辨率物鏡相結合
- 具有多個 SE 及 BSE 探測器的*探測系統
- TriSE™ + TriBE™
- Triglav™ - 低加速電壓下的超高分辨率: 1 nm (1 kV ),0.7 nm (15 kV )
- EquiPower™ 進一步提高電子束的穩定性
- 電子束流高達 400 nA,并能實現電子束能量的快速改變
- 優化的鏡筒幾何設計大可容納8”晶圓
Cobra FIB 鏡筒
高性能鎵離子 FIB 鏡筒,實現超高精度納米建模
- 探針電流:1 pA ~ 50 nA
- 分辨率:< 2.5 nm @ 30 kV (在 SEM 電子束與 FIB 離子束的重(疊)合點)
- 在刻蝕和成像方面擁有水平的技術
- Cobra 可保證在短時間內完成橫斷面處理及 TEM 樣品制備
- 適合生物樣品的 3D 超微結構研究,如組織、完整的細胞等
- 低電壓下的性能,適合于刻蝕超薄樣品和減少非晶層