產地類別 | 進口 | 產品種類 | 正置 |
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價格區間 | 1-5萬 | 目鏡 | 10 |
配備圖像分析系統 | 否 | 物鏡 | 5-100 |
應用領域 | 化工,地礦,電子,紡織皮革 | 總放大倍率 | 50-1000X |
徠卡半導體檢測顯微鏡DM12000M,可實現大型12寸晶圓觀察,常規金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析。可配接Leica攝像頭,熱臺等配件。
DM12000M高級智能數字式正置顯微鏡,適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析,多種安全設計,保護晶圓,鏡頭及觀察者。
晶圓檢測顯微鏡采用模塊設計,可實現反射觀察、透射觀察配置
復消色差光路,整體支持25mm視野直徑
可選配UV光源,提高觀察分辨率至亞微米機構,UV由大功率LED產生,具有UV和OUV功能
12x12大樣品臺,可觀察晶圓,LCD等大尺寸樣品
6孔位電動物鏡轉盤,配接32mm直徑長工作距離工業物鏡
內置電動或手動調焦系統
*0.7x宏光物鏡,具有宏光晶圓檢查功能
徠卡金相半導體顯微鏡DM12000M結構圖
產品特點 Infocation
四倍視野
宏觀放大功能,使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。
人體工學設計
非常適合長時間在顯微鏡上工作,直觀操作適應任何程度的使用者。
極限分辨率
全新的傾斜紫外模式(OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念,確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。