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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)> FT110 X射線熒光鍍層厚度測量儀

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FT110 X射線熒光鍍層厚度測量儀

具體成交價以合同協議為準
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鍍層厚度測量儀

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深圳惠碩儀器有限公司

 

儀器

價格區間 面議 行業專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式

FT110 X射線熒光鍍層厚度測量儀的主要特征:
1.FT110 X射線熒光鍍層厚度測量儀通過自動定位功能提高操作性測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。
4.廣域觀察系統(選配)可從大250×200mm的樣品整體圖像測量位置。
5.對應大型印刷線路板(選配)可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。
6.低價位與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。
[主要產品規格]
檢測器比例計數管
X射線源空冷式小型X射線管
準直器0.1、0.2mmφ2種
樣品觀察CCD攝像頭
樣品臺移動量250(X)×200(Y)mm
樣品大高度150mm



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