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EX2 自動橢圓偏振測厚儀

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光譜橢偏儀,激光橢偏儀,在線橢偏儀,

價格區(qū)間 面議

EX2自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)橢偏測量原理,針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。

EX2 自動橢圓偏振測厚儀適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。

EX2 自動橢圓偏振測厚儀還可用于同時測量塊狀材料(如,金屬、半導體、介質)的折射率n和消光系數(shù)k。

特點

  • 經典消光法橢偏測量原理

  儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。

  • 方便安全的樣品水平放置方式

  采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。

  • 緊湊的一體化結構

  集成一體化設計,簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連,方便使用。

  • 高準確性的激光光源

  采用激光作為探測光波,測量波長準確度高。

  • 豐富實用的樣品測量功能

  可測量納米薄膜的膜厚和折射率;塊狀材料的復折射率、樣品反射率、樣品透過率。



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