EX1 手動橢圓偏振測厚儀
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- 公司名稱 北京量拓科技有限公司-C
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/17 11:44:32
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EX1手動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款手動教學儀器。
EX1 手動橢圓偏振測厚儀適用于納米薄膜的厚度測量、以及納米薄膜的厚度和折射率測量。
EX1 手動橢圓偏振測厚儀還可用于測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。
特點
- 消光法橢偏測量原理
- 儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。
- 方便的樣品水平放置方式
- 采用水平放置樣品，方便樣品取放。
- 精巧的一體化結構
- 集成一體化設計，精巧的儀器外形，方便地顯示儀器測量過程中的光強信息。
- 高準確性的激光光源
- 采用激光作為探測光波，測量波長準確度高。
- 實用的樣品測量功能
- 可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率。
- 方便的儀器手動操作
- 手動完成測量，儀器軟件輔助進行測量數據的分析。
- 可擴展的儀器功能
- 利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。
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化工儀器網