EM12 精致型多入射角激光橢偏儀
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- 公司名稱 北京量拓科技有限公司-C
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/17 11:18:59
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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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EM12是采用量拓科技*的測量技術，針對中端精度需求的研發和質量控制領域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。
EM12可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的厚度測量。
EM12適合于中端精度要求的科研和工業環境中的新品研發或質量控制。
EM12 精致型多入射角激光橢偏儀可用于測量單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數k；可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k；可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數k。
EM12 精致型多入射角激光橢偏儀可應用的納米薄膜領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。可應用的塊狀材料領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。
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