CT8681/CT-8681 益和 線材測(cè)試機(jī)/線材測(cè)試儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 東莞市源益電子有限公司
- 品牌
- 型號(hào) CT8681/CT-8681
- 產(chǎn)地 中國臺(tái)灣
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/7/15 15:24:39
- 訪問次數(shù) 410
產(chǎn)品標(biāo)簽
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wayne kerr LCR電表;wayne kerr阻抗分析儀;層間短路匝間耐壓測(cè)試機(jī);耐壓絕緣高壓測(cè)試機(jī);CCFL inverter測(cè)試機(jī)逆變器、變壓器綜合測(cè)試機(jī)、馬達(dá)轉(zhuǎn)子/定子測(cè)試機(jī);線材綜合測(cè)試機(jī);ATE萬用型功能測(cè)試機(jī);微歐姆表;自動(dòng)測(cè)試包裝;承接各種生產(chǎn)自動(dòng)化自動(dòng)測(cè)試設(shè)備制做;
CT8681/CT-8681系列
專業(yè) 線材測(cè)試機(jī)/線材測(cè)試儀 CT8681/CT-8681
特性:
zui高1500V測(cè)試電壓
zui高可測(cè)512測(cè)試點(diǎn)
系統(tǒng)可自動(dòng)掃描自動(dòng)找點(diǎn)
提供*的瞬間短斷路/導(dǎo)通測(cè)試
可作線材單邊測(cè)試/絕緣測(cè)試
提供320*240解析度圓形液晶顯示
線性與安規(guī)測(cè)試
*可程式化連續(xù)測(cè)試
提供多種介面,可作各種不同之應(yīng)用
系統(tǒng)提供統(tǒng)計(jì)與列印功能
測(cè)試項(xiàng)目
項(xiàng)目 | 符號(hào) | 量測(cè)范圍 |
短/斷路 | O/S | 2KΩ~50KΩ |
瞬間短斷路測(cè)試 | 2KΩ~50KΩ | |
短斷路端點(diǎn)判斷 | ||
導(dǎo)通 | COND | 0.1Ω ~50.0Ω |
瞬間導(dǎo)通路測(cè)試 | 0.1Ω ~50.0Ω | |
電阻 | R | 0.1Ω ~10.0MΩ |
電容 | C | 1pF~1uF |
二極體 | Zener | 07~V |
絕緣 | IR | 1MΩ~1GΩ |
單邊測(cè)試 | ||
耐壓 | Hipot | Max.5mA |
實(shí)際規(guī)格依各機(jī)型而異,請(qǐng)參照訂購資訊
應(yīng)用范圍
一般線材
線材測(cè)試機(jī)/線材測(cè)試儀 CT8681/CT-8681 Cable/Harness Tester SPECIFICATIONS
進(jìn)階功能 可程式化連續(xù)測(cè)試 自動(dòng)找點(diǎn) 自動(dòng)診斷 自我校正歸零 基本準(zhǔn)確度 ±5% 測(cè)試掃描模式 自動(dòng)/短路掃描可切換 量測(cè)時(shí)間 0.1SEC基本值 量測(cè)頻率與訊號(hào)/電壓 低電壓量測(cè)訊號(hào) 額定輸出5Vda 高壓絕緣測(cè)試 200~1500Vdc;100~1000Vac 50V Resolution ±5%準(zhǔn)確度 顯示/聲鄉(xiāng)裝置 320/240解析度液晶圓形顯示 Pass/Fail LED 紅綠指示燈/書面顯示/聲鄉(xiāng) 量測(cè)接點(diǎn) 128量測(cè)接點(diǎn) 可選購256/512接點(diǎn) 高壓校正正負(fù)端輸出(+/-) 自動(dòng)找點(diǎn)端子 控制面板 系統(tǒng)/快速/編輯/功能 按鍵群組 介面 RS-232通訊連接埠 印表機(jī)埠 遠(yuǎn)端控制埠 記憶裝置 Flash Memory zui多可儲(chǔ)存56組測(cè)試設(shè)定檔案 | 電源供應(yīng) 115/230Vac電壓輸入±10% 60/50Hz 配件 自動(dòng)找點(diǎn)探針 遠(yuǎn)端控制線(選購) RS-232訊號(hào)線 電源線 使用手冊(cè) 溫濕度 攝氏15℃~35℃ 相對(duì)濕度RH≦75% 尺寸寬*高*深 425*190*350mm 重量 重約14公斤不含配件 線材規(guī)格要求 zui高1uF 訂購資訊 CT-8681V 5Vdc低壓線材測(cè)試機(jī) CT-8681N 200~700Vdc;電阻1MΩ; 絕緣1MΩ~500MΩ CT-8681FA 200~700Vdc;100~5000Vac 電阻1MΩ; /C2 256測(cè)試點(diǎn) /C3 512測(cè)試點(diǎn) |